[发明专利]彩色打印系统校准有效

专利信息
申请号: 201080065882.X 申请日: 2010-04-07
公开(公告)号: CN102883889A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 迈克尔·阿哈伦;H.纳赫莱利;D.沙克德 申请(专利权)人: 惠普发展公司;有限责任合伙企业
主分类号: B41J2/07 分类号: B41J2/07;B41J29/38;B41F33/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 段俊峰;卢江
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 彩色 打印 系统 校准
【权利要求书】:

1.一种对彩色打印系统(20)的部件(18;34;29)进行校准的方法,该方法包括:

使用感测系统(29)来在硬拷贝图像(36)的多个位置(37)中的每一个处获取(64)多个反射谱度量(39),每个位置潜在地被用不止一个标记剂色彩打印;

基于用于在每个所述位置处打印的每个标记剂的所请求覆盖值(35)计算(65)用于每个所述位置(37)的预期反射度量(46),这些计算的预期反射度量取决于具有未知值的至少一个参数,其对要校准的所述部件(18;34;29)的特性进行建模;

确定(66)所述至少一个参数的值,该值使感测的反射谱度量和预期反射谱度量(39、46)之间的跨所述位置的总差最小化;以及

根据所述至少一个参数的所确定值对所述部件(18;34;29)进行校准(67)。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,计算(65)所述位置(37)处的预期反射度量(46)涉及:

使用用于该位置处的每个标记剂的参数化覆盖转换函数(40)将用于该标记剂的所请求覆盖值(35)转换成预期打印覆盖值(41),所述至少一个参数包括将覆盖转换函数(40)参数化的参数;

使用将预期打印覆盖值与对应的反射谱相关的谱模型(42)来处理预期打印覆盖值(41);以及

生成预期反射谱度量(46)作为感测系统(29)的响应函数(45)在谱模型(42)的输出上的投影;

所计算的预期反射谱度量(46)取决于将覆盖转换函数(40)参数化的参数。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,每个覆盖转换函数(40)包括不被其之间的预定约束关系束缚的多个参数,由此,所述参数能够采取使感测的反射谱度量和预期反射谱度量(39、46)之间的总差最小化的任何值。

4.根据权利要求2所述的方法,其中,每个覆盖转换函数(40)包括表征所请求和预期覆盖值(35、41)之间的预定的一般形式的关系的参数。

5.根据权利要求2至4中的任一项所述的方法,其中,要校准的打印系统部件包括用于每个标记剂的相应存储关系(34),其使所请求标记剂覆盖值(35)与意图导致打印图像中的对应实际覆盖的打印系统设置相关。

6.根据权利要求5所述的方法,其中每个所存储的关系采取查找表(34)的形式,并且所请求覆盖值被转换到的打印系统设置是半色调网片尺寸。

7.根据权利要求5所述的方法,其中,所述感测系统(29)是打印系统(20)的内联感测子系统,由感测系统(29)从其获取多个反射谱度量(39)的硬拷贝图像(36)是由打印系统打印的图像;该方法还包括在打印所述硬拷贝图像的多个拷贝的打印运行过程期间在进行中重复所述存储关系(34)的校准。

8.根据权利要求7所述的方法,其中,使用针对由打印系统(20)打印的多个连续图像积累的感测和预期度量来实现使所感测的反射谱度量和预期反射谱度量(39、46)之间的总差最小化的参数值的确定(66)。

9.根据权利要求7所述的方法,其中,由校准过程的初始迭代(62)来评估打印系统谱性质,其值在计算所述预期反射度量(46)时被使用,在所述初始迭代中,将谱性质的值视为未知,并使用所请求覆盖值(35)作为预期覆盖值(46),从而固定覆盖转换函数参数的值,谱性质的值被确定为使所感测的反射谱度量和预期反射谱度量(39、46)之间的总差最小化的其值。

10.根据权利要求7所述的方法,其中,用于每个标记剂的覆盖转换函数(40)包括对用于该标记剂的完整覆盖值进行建模的另一参数,针对此另一参数所确定的值被用来对控制相关标记剂的完整覆盖的打印系统部件(18)进行校准。

11.根据权利要求5所述的方法,其中,所述硬拷贝图像是打印图像,打印系统(20)将被设置成在由此打印的图像中模拟其谱特征。

12.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其中,所述感测系统(29)包括具有多个滤波器的光学密度计。

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