[发明专利]正电子CT装置和定时校正方法

权利要求书

1.一种正电子CT装置，具备多个检测器，这些检测器检测从被投放到被检体内的正电子放射性药剂放出的放射线，该正电子CT装置的特征在于，还具备：

运算单元，其反复进行如下操作：与时间差直方图相关地选择进行同时计数的作为对象的两个检测器，从所选择的这两个检测器中选择其中一个检测器，并且选择与其中另一个检测器不同的检测器，在反复进行该选择时，将与过去选择的两个检测器相关的时间差直方图作为基准，基于该基准对与本次选择的两个检测器相关的时间差直方图进行校正，将校正后得到的与这两个检测器相关的时间差直方图重新作为基准，其中，该时间差直方图表示针对对放射线进行同时计数的各检测器对的每对的时间差变化的计数值分布；以及

同时计数电路，其基于利用上述运算单元反复校正而得到的各检测器对的每对的上述时间差直方图对放射线进行同时计数。

2.根据权利要求1所述的正电子CT装置，其特征在于，

将作为上述基准的上述时间差直方图中的总计数值最大的时间差作为基准值，

上述运算单元基于上述基准值对时间差直方图的时间差进行校正。

3.根据权利要求1所述的正电子CT装置，其特征在于，

将作为上述基准的上述时间差直方图中的处于总计数值最大的时间差和总计数值第二大的时间差之间的中间值的时间差作为基准值，

上述运算单元基于上述基准值对时间差直方图的时间差进行校正。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的正电子CT装置，其特征在于，

上述检测器具备：

多个闪烁体元件，它们由于放射线的入射而发出荧光；以及

光电转换单元，其通过对来自各闪烁体元件的光进行光电转换来检测放射线，

上述运算单元反复进行以下操作：与对放射线进行同时计数的各检测器的由一个闪烁体元件构成的闪烁体元件单元的每对的上述时间差直方图相关地、选择进行同时计数的作为对象的两个检测器的闪烁体元件单元，从所选择的这两个闪烁体元件单元中选择其中一个检测器的闪烁体元件单元，并且选择与另一个检测器的闪烁体元件单元不同的闪烁体元件单元，在反复进行该选择时，将与过去选择的两个检测器的闪烁体元件单元相关的时间差直方图作为基准，基于该基准对与本次选择的这两个检测器的闪烁体元件单元相关的时间差直方图进行校正，将校正后得到的与这两个检测器的闪烁体元件单元相关的时间差直方图重新作为基准，

上述同时计数电路基于利用上述运算单元反复校正而得到的各检测器的闪烁体元件单元的每对的上述时间差直方图对放射线进行同时计数。

5.根据权利要求1至3中的任一项所述的正电子CT装置，其特征在于，

上述检测器具备：

多个闪烁体元件，它们由于放射线的入射而发出荧光；以及

光电转换单元，其通过对来自各闪烁体元件的光进行光电转换来检测放射线，

上述运算单元反复进行以下操作：与对放射线进行同时计数的各检测器对中的一个检测器的闪烁体元件组和另一个检测器的闪烁体元件单元的上述时间差直方图相关地、从进行同时计数的作为对象的检测器中选择其中一个检测器的闪烁体元件组和另一个检测器的闪烁体元件单元，从所选择的该闪烁体元件组和闪烁体元件单元中选择该闪烁体元件组，并且选择与上述另一个检测器的闪烁体元件单元不同的闪烁体元件单元，在反复进行该选择时，将与过去选择的闪烁体元件组和闪烁体元件单元相关的时间差直方图作为基准，基于该基准对与本次选择的闪烁体元件组和闪烁体元件单元相关的时间差直方图进行校正，将校正后得到的与该闪烁体元件组和闪烁体元件单元相关的时间差直方图重新作为基准，其中，该闪烁体元件组由多个闪烁体元件构成，该闪烁体元件单元由一个闪烁体元件构成，

上述同时计数电路基于利用上述运算单元反复校正而得到的每对闪烁体元件组和闪烁体元件单元的上述时间差直方图对放射线进行同时计数。

6.根据权利要求1至5中的任一项所述的正电子CT装置，其特征在于，

上述检测器具备：

多个闪烁体元件，它们由于放射线的入射而发出荧光；以及

光电转换单元，其通过对来自各闪烁体元件的光进行光电转换来检测放射线，

上述检测器是在放射线的深度方向上层叠各上述闪烁体元件而构成的DOI检测器。