[发明专利]微流体装置、微流体计量供给系统以及用于微流体测量和计量供给的方法有效

专利信息
申请号: 201080070068.7 申请日: 2010-09-09
公开(公告)号: CN103249486A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: M·里克特;S·基布勒 申请(专利权)人: 弗劳恩霍夫应用研究促进协会
主分类号: B01L3/00 分类号: B01L3/00;A61M5/168
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 冯剑明
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 流体 装置 计量 供给 系统 以及 用于 测量 方法
【权利要求书】:

1.一种用于检测流动参数的微流体装置(100、200),包括:

一设置于基座主体(102)内的通道(104),

所述通道(104)包括用于供给第一流体(F1)的第一入口(106)和用于供给第二流体(F2)的第二入口(108),以便在通道(104)内形成具有第一和第二流体(F1、F2)的流体流(F1-2),且进一步还包括一用于在输出侧提供流体流(F1-2)的输出端(112),且

所述通道(104)还具有一横截面面积,该通道设置在填充有第一流体(F1)的通道(104)的一段和相邻的填充有第二流体(F2)的通道(104)的一段之间,第一和第二流体(F1、F2)之间有一流体界面,所述界面延伸至通道(104)的整个通道横截面;

一具有一微泵与第一入口(106)相连的第一供给装置(114),用于选择性地供给第一流体(F1)至通道(104),

一与第二入口(108)相连的第二供给装置(116),用于选择性地供给第二流体(F2)至通道(104);和

一检测装置(118),用于基于通道内第一流体和第二流体不同的物理特性检测一取决于第一或第二流体的当前流动参数的测量值(SMEASURE)。

2.根据权利要求1所述的装置,其中检测装置(118)配置为基于通道内第一流体(F1)和第二流体(F2)不同的物理特性确定通道(104)内流体界面的的位置或位置的改变,第一或第二流体(F1、F2)的当前流动参数由流体界面的位置或位置的改变确定。

3.根据权利要求1或2所述的装置,其中所述不同的物理特性是指第一流体(F1)和第二流体(F2)不同的导电性、不同的介电常数、不同的磁导率、不同的透光性或不同的光反射率。

4.根据前述任一项权利要求所述的装置,其中当前流动参数代表流速、流量、流向、流体传递时间和/或通道(104)中第一或第二流体(F1、F2)的填充水平。

5.根据前述任一项权利要求所述的装置,其中检测装置(118)包括多个沿流体通道(104)的单传感器元件,配置为沿连接至单传感器元件的通道(104)的多个位置处以一空间解析的方式检测第一和第二流体(F1、F2)的不同的物理特性。

6.根据前述任一项权利要求所述的装置,其中检测装置(118)配置为电容式地检测测量值,且其中相互之间绝缘且与流体流(F1-2)绝缘的两电极(118a、118b)设置于基座主体(102)上,所述两电极(118a、118b)关于通道(104)相对着设置,这样两电极(118a、118b)之间产生的电场既存在于填充有第一流体(F1)的流体通道(104)的那段中,又存在于填充有第二流体(F2)的流体通道(104)的那段中,这样流体流(F1-2)的位置的变化会导致两电极(118a、118b)之间的电容量成比例的变化。

7.根据权利要求6所述的装置,其中第一和第二电极(118a、118b)每个都包含多个单电极,这样第一和第二电极之间形成多个单电容,所述单电容相互之间可以独立地进行检测。

8.根据权利要求6或7所述的装置,其中第一和第二电极(118a、118b)相对于基座主体(102)的第一和第二主表面(102a、102b)水平设置,且至少部分覆盖通道(104)。

9.根据权利要求6或7所述的装置,其中第一和第二电极(118a、118b)相对于基座主体(102)的第一和第二主表面(102a、102b)垂直设置,且在所有情况下都沿通道(104)延伸。

10.根据权利要求6或7所述的装置,其中第一和第二电极(118a、118b)每一个都,或至少有几段,沿通道(104)的一弯曲外表面延伸。

11.根据前述任一项权利要求所述的装置,其中检测装置(118)配置为光学地检测流体通道(104)中流体流(F1-2)内界面的位置,并且其中所述通道在其至少一侧是可以透光的。

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