[发明专利]X射线检查装置有效

专利信息
申请号: 201080070374.0 申请日: 2010-11-26
公开(公告)号: CN103249364A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 奥野智晴 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 射线 检查 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种通过从X射线管照射的X射线来拍摄被检者的X射线图像的X射线检查装置。

背景技术

在这种X射线检查装置中使用暗盒(cassette)、CR(Computed Radiography:计算机放射摄影)或者FPD(平板检测器)等X射线检测器。而且,例如在拍摄直立位状态的被检者的直立架等的X射线检查装置中,根据被检者的体形、摄影部位变更X射线检测器的上下位置,X射线管的上下位置也随之发生变更。

在此,X射线检测器被收纳在滤线栅(bucky)部等的X射线检测器收纳部中。该X射线检测器收纳部能够收纳除与X射线检测器收纳部对应的尺寸的X射线检测器以外的各种尺寸的X射线检测器。而且,成为如下结构:当将X射线检测器安装于X射线检测器收纳部时,以X射线检测器收纳部的上端为基准的上基准、以X射线检测器收纳部的中央为基准的中心基准、以X射线检测器收纳部的下端为基准的下基准来对该X射线检测器的基准位置进行定位,利用弹簧等机械性地进行固定。以往,根据各X射线检测器收纳部的机械性结构唯一地决定这些基准位置(参照专利文献1)。

另外,在这种X射线检查装置中还提出了如下一种摄影系统:利用作为使摄影条件、被检体的摄影部位、摄影方法等相关联而得到的数据结构的解剖程序(anatomical program),根据该解剖程序等使X射线管自动移动到摄影位置(参照专利文献2)。而且,基于X射线检测器的尺寸和上基准、中心基准、下基准等X射线检测器的基准位置来计算X射线管的摄影位置(参照专利文献3)。

专利文献1:日本特开2005-198881号公报

专利文献2:日本特开2008-125981号公报

专利文献3:日本特开2007-20869号公报

发明内容

发明要解决的问题

如上所述,在这种X射线检查装置中,根据X射线检测器收纳部的机械性结构唯一地决定X射线检测器的基准位置。而且,还基于该基准位置决定X射线管的摄影位置。因此,在以往的X射线检查装置中不可能切换上基准、中心基准、下基准等X射线检测器的基准位置来进行使用。

在此,例如假设在拍摄直立位状态的被检者的直立架等的X射线检查装置中使用了中心基准的X射线检测器收纳部的情况。在这种情况下,如果以直立位执行膝盖的摄影,则使中心基准的X射线检测器收纳部向下方移动。X射线管也随之移动到与X射线检测器收纳部中的X射线检测器相向的位置处,但是由于该X射线检测器收纳部是中心基准的,因此X射线管也仅移动到与X射线检测器收纳部的中央部相向的位置处。因此,如果膝盖的位置是比该位置更低的位置且无论如何都需要使X射线管下降至更低的位置,则操作者需要通过手动操作等来移动X射线管,操作性变差。

本发明是为了解决上述问题而完成的,其目的在于提供一种通过与X射线检查相对应地变更基准位置来提高X射线管的移动的自由度的X射线检查装置。

用于解决问题的方案

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