[发明专利]一种集成电路铜互连结构中铜的电化学机械抛光液无效

专利信息
申请号: 201110000136.9 申请日: 2011-01-04
公开(公告)号: CN102121127A 公开(公告)日: 2011-07-13
发明(设计)人: 储向峰;董永平;张王兵;陈同云;孙文起 申请(专利权)人: 安徽工业大学
主分类号: C25F3/22 分类号: C25F3/22;C09K3/14
代理公司: 马鞍山市金桥专利代理有限公司 34111 代理人: 周宗如
地址: 243002 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 互连 结构 电化学 机械抛光
【权利要求书】:

1.一种用于集成电路铜互连结构中铜的电化学机械抛光的抛光液,其特征在于所述抛光液的组成及其质量百分比如下:

酸:1-10%;钾盐:0.5-1%;抑制剂:0.01-0.1%;络合剂:0.1-2%、表面活性剂:0.01-0.1%:分散剂:0.01-0.1%;pH调节剂KOH:1-5%;其余为水。

2.根据权利要求1所述的抛光液,其特征在于所述酸是柠檬酸或乳酸。

3.根据权利要求1所述的抛光液,其特征在于所述钾盐是柠檬酸钾或乳酸钾。

4.如权利要求1所述的抛光液,其特征在于所述抑制剂是尿酸。

5.根据权利要求1所述的抛光液,其特征在于所述络合剂是甘氨酸或氨水或EDTA。

6.根据权利要求1所述的抛光液,其特征在于所述表面活性剂是十二烷基硫酸铵、十二烷基苯磺酸铵、TX-10、NP-5、NP-9中的一种。

7.根据权利要求1所述的抛光液,其特征在于所述分散剂是聚乙烯醇、聚丙烯酸、聚丙烯酸铵和据环氧乙烷中的一种。

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