[发明专利]电容式触摸屏扫描线电容测试电路、方法及触摸屏

说明书

技术领域

本发明涉及一种电容式触摸屏扫描线电容测试方法，尤其是指该方法以及其对应的触摸屏。

背景技术

目前，判断电容式触摸屏是否合格一般需要测试扫描线是否导通、阻抗大小和电容值大小，而为了节约测试成本，测试触摸屏的步骤一般均在成型前就完成各种测试步骤。而在现阶段，触摸屏上ITO在蚀刻后仅仅能测试出其导通和阻抗，虽然在触摸屏成型前通过导通和阻抗的测试可以排除一部分不良品流入下一工艺步骤中，但是由于没有任何测试扫描线电容值的方法，所以导致只能在触摸屏成型后，通过手指的操作流畅度来判断是否是合格产品。

故此，电容式触摸屏扫描线电容的测试方法一直都是业界亟待解决的问题，由于电容值的异常可能直接导致很多功能的异常，影响操作性，所以如果测试出各条扫描线上的电容值，就可以判断触摸屏是否合格。而由于外界环境的干扰，触摸屏上扫描线上的电容值也会受其影响，所以目前侦测出的电容值均是包括外界噪声影响的电容值，这种影响必须控制在一定的范围内才不会影响其操作性能，否则触摸屏就很有可能不能正常工作。如常见的单指或者双指画线性度，如果电容超过范围的话就会出现锯齿，导致平滑度很差，更严重者就会导致无法画线。如此以来检测出的触摸屏如果是不合格品也只能作为报废品，正是由于没有测试扫描线电容值的原因才最终导致这种结果。

因此，我们希望可以提供一种新的不但可以测试扫描线上电容的大小、又可以节约成本的测试方法。

发明内容

本发明实际所要解决的技术问题是如何提供一种测试电容式触摸屏扫描线电容大小的方法。

为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种电容式触摸屏扫描线电容的测试电路，包括扫描线上的待测电容和外接可调电容以及两个耦合电容，其连接方法如下：首先，将所述待测电容与其中一个耦合电容并联形成一电路；其次，将所述外接电容与另一个耦合电容并联又形成一电路；最后，将上述两个电路并联后经比较器比较后输出。

本发明所述的电容式触摸屏扫描线电容测试电路和方法以及触摸屏，不但克服了传统不能测试电容从而不能判断触摸屏是否是良品的缺点，而且该测试方法可以在触摸屏成型前完成测试，及时调整生产工艺降低产品的不良率，节约了成本，而且提高了产品的良率。

附图说明

图1是本发明电容触摸屏扫描线测试的电路连接图；

图2是本发明电容触摸屏扫描线测试的方法流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。

本发明所述的触摸屏包括一触摸区，外接电容Cadj以及触控芯片。所述触摸区用于提供触摸的区域，用户的手指可以在其上进行操作，触摸区上设有若干扫描线，分别连接到触控芯片对应的引脚上；所述外接电容Cadj是一种外接电路的可调节电容；所述触控芯片用于计算电容值的大小。请参考图1所述为触摸屏上任意一根扫描线的电容Cx和外接可调电容Cadj的连接示意图，触摸屏上任意一根待测扫描线的电容Cx和外接可调电容Cadj经并联后，其一端连接信号输出，如激励源或信号发生器；另一端经比较器10比较后输出结果。其中，所述电容Cx和耦合电容C1相并联形成一电路，所述外接电容Cadj和耦合电容C2并联形成一电路，然后再将上述两个电路并联后经比较器10比较后输出结果。

请参考图2所示，本发明所述的电容式触摸屏扫描线电容测试方法中，首先需要确定触摸屏上有任意一条待测扫描线处于断开状态，也就是使待测扫描线与所述触控区断开，此时保持其它扫描线与所述触控芯片的相应引脚相连接；其次，将待测扫描线的电容Cx按照上述图1的连接方式连接，即将待测电容Cx与耦合电容C1并联，实际上是将C1的一端与比较器10的一个输入端相连接，另一端接地；再将外接Cadj与耦合电容C2并联，实际上是将C2的一端与比较器10的另一个输入端相连接，另一端接地；然后调节外接可调电容Cadj，直到侦测出比较器10输出值与其它扫描线匹配，即判断输出值是否在一个门槛值内，若在所述门槛值内，则认为该条待测扫描线的电容值可接受；若不在所述门槛值内，则认为该条待测扫描线的电容值不能接受。

上述门槛值是指一个和其它扫描线电容值相近的一个数值，其具体数值可以根据经验值确定，且耦合电容C1和C2分别影响待测电容Cx和外接电容Cadj。而当上述待测扫描线的电容值不在该门槛值时，可以调节外接电容Cadj的大小直到输出值在所述门槛值之内为止。如此以来，通过调节外接电容Cadj的大小就可以得出与其它扫描线的偏差，对于工程端来说，知道了偏差的大小，那就能够通过工艺来尝试改善，从而为后续改进提供了基础。

本发明所述的电容式触摸屏扫描线的测试方法，只要触摸屏上一旦形成扫描线就可以测试，所以在ITO蚀刻在玻璃后就用来可以测试，故此如果发现不良品，可以及时记录、调整，从而保证了触摸屏的质量；而且在触摸屏成型前的调整也可以降低产品的不良率，最终节约了成本。