[发明专利]循环冗余校验CRC码的实现方法及装置有效
申请号: | 201110000482.7 | 申请日: | 2011-01-04 |
公开(公告)号: | CN102546089A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 陈思思;杨锋 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡海国 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 循环 冗余 校验 crc 实现 方法 装置 | ||
1.一种循环冗余校验CRC码的实现方法,其特征在于,包括以下步骤:
对并行输入的信息码进行预处理,并获得其有效数据位;
从上一次CRC并行计算获得的CRC码中选择当前有效CRC寄存器位;
将所述有效数据位及所述当前有效CRC寄存器位进行至少一次异或运算,获得新的CRC码。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对并行输入的信息码进行预处理,并获得其有效数据位的步骤具体包括:
根据CRC并行计算电路最大并行计算位宽和本次并行计算位宽,将并行输入的信息码进行整形处理,获得数据块;
根据CRC并行计算电路最大并行计算位宽或者本次并行计算位宽对应的CRC并行计算逻辑关系式,从所述数据块中选出有效数据位。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述整形处理包括:
根据CRC并行计算电路最大并行计算位宽和本次并行计算位宽,对并行输入信息码高位进行补零或清零操作,将并行输入的信息码整形为n比特的{(n-Vn)’b0,d[Vn-1:0]}数据块,其中n为最大并行计算位宽,Vn为本次并行计算位宽;尤其
当并行输入信息码位宽等于最大并行计算位宽n时,整形处理也可以直接对并行输入信息码进行透传,则整形后的数据块仍为输入的信息码。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从上一次CRC并行计算获得的CRC码中选择当前有效CRC寄存器位的步骤具体为:
根据本次并行计算位宽所对应的寄存器位系数,从上一次CRC并行计算获得的CRC码中选择当前有效CRC寄存器位。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述将有效数据位及所述当前有效CRC寄存器位进行至少一次异或运算,获得新的CRC码的步骤之后还包括:
判断所述并行输入的信息码是否为最后一次数据输入,是则将所述新的CRC码记为最终的CRC码;否则返回执行对并行输入的信息码进行预处理,并获得其有效数据位的步骤。
6.一种循环冗余校验CRC码的实现装置,其特征在于,包括:
数据位预处理模块,用于对并行输入的信息码进行预处理,并获得其有效数据位;
CRC寄存器反馈选择模块,用于从上一次CRC并行计算获得的CRC码中选择当前有效CRC寄存器位;
异或运算模块,用于将所述有效数据位及所述当前有效CRC寄存器位进行至少一次异或运算,获得新的CRC码。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述数据位预处理模块具体包括:
整形单元,用于根据CRC并行计算电路最大并行计算位宽和本次并行计算位宽,将并行输入的信息码进行整形处理,获得数据块;
选择单元,用于根据CRC并行计算电路最大并行计算位宽或者本次并行计算位宽对应的CRC并行计算逻辑关系式,从所述数据块中选出有效数据位。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述整形单元进行整形处理具体为:
根据CRC并行计算电路最大并行计算位宽和本次并行计算位宽,对并行输入信息码高位进行补零或清零操作,将并行输入的信息码整形为n比特的{(n-Vn)’b0,d[Vn-1:0]}数据块,其中n为最大并行计算位宽,Vn为本次并行计算位宽;尤其
当并行输入信息码位宽等于电路最大并行计算位宽时,整形处理也可以直接对并行输入信息码进行透传,则整形后的数据块仍为输入的信息码。
9.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述CRC寄存器反馈选择模块具体用于:根据本次需要计算位宽所对应的寄存器位系数,从上一次CRC并行计算获得的CRC码中选择当前有效CRC寄存器位。
10.根据权利要求6至9中任一项所述的装置,其特征在于,还包括:
循环模块,用于判断所述并行输入的信息码是否为最后一次数据输入,是则将所述新的CRC码记为最终的CRC码;否则返回执行对并行输入的信息码进行预处理,并获得其有效数据位的步骤。
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