[发明专利]样本分析仪及样本分析方法有效

专利信息
申请号: 201110001625.6 申请日: 2011-01-06
公开(公告)号: CN102121892A 公开(公告)日: 2011-07-13
发明(设计)人: 高田瑠美;田中庸介;成定宪志;井上淳也 申请(专利权)人: 希森美康株式会社
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;C12Q1/04
代理公司: 北京市安伦律师事务所 11339 代理人: 刘良勇
地址: 日本兵库县神户市*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 样本 分析 方法
【权利要求书】:

1.一种样本分析仪,包括:

光源部件,光照由受检者的尿样和试剂所制备的测定试样中所含粒子;

检测部件,检测所述测定试样中的粒子产生的散射光和荧光;

显示部件;及

控制部件;

其中,所述控制部件执行以下操作:

根据所述检测部件从所述粒子检测出的散射光和荧光,获取粒子数据;及当所述粒子数据满足一定条件时,控制所述显示部件显示信息,提示所述受检者可能患有单纯性尿路感染。

2.根据权利要求1所述样本分析仪,其特征在于:

所述粒子数据包括从所述测定试样中的各个粒子获得的散射光强度和荧光强度;

当所述测定试样中所含粒子的散射光强度和荧光强度的相关分布状态满足所述一定条件时,所述控制部件控制所述显示部件显示所述信息。

3.根据权利要求1所述样本分析仪,其特征在于:

所述控制部件根据所述散射光和所述荧光生成绘制有各个粒子数据的散点图,在所述散点图上设定数个区域,根据所述各区域所含数据点数,判断所述粒子数据是否满足一定条件。

4.根据权利要求3所述样本分析仪,其特征在于:

所述控制部件通过以所述散点图的原点为旋转中心的一定倾斜角划分所述散点图,设定所述数个区域。

5.根据权利要求3所述样本分析仪,其特征在于:

所述数个区域中均除去了含有所述原点的一定区域。

6.根据权利要求3所述样本分析仪,其特征在于:

所述控制部件根据所述数据点数比相邻区域多的所述区域数,判断所述粒子数据是否满足所述一定条件。

7.根据权利要求4所述样本分析仪,其特征在于:

所述控制部件根据由所述倾斜角和所述数据点数生成的直方图判断所述粒子数据是否满足所述一定条件。

8.根据权利要求7所述样本分析仪,其特征在于:

所述控制部件根据所述直方图的形状,判断所述粒子数据是否满足所述一定条件。

9.根据权利要求8所述样本分析仪,其特征在于:

所述控制部件根据所述直方图上出现的波峰数,判断所述粒子数据是否满足所述一定条件。

10.根据权利要求8所述样本分析仪,其特征在于:

所述控制部件根据所述直方图的倾斜度,判断所述粒子数据是否满足所述一定条件。

11.根据权利要求7所述样本分析仪,其特征在于:

当所述直方图满足所述一定条件时,所述控制部件在所述显示部件显示提示所述受检者可能患有单纯性尿路感染的第一信息;

当所述直方图满足第二条件时,所述控制部件在所述显示部件显示提示所述受检者可能患有复杂性尿路感染的第二信息。

12.根据权利要求11所述样本分析仪,其特征在于:

当所述直方图的形状满足所述一定条件时,所述控制部件在所述显示部件显示第一信息,当所述直方图的形状满足第二条件时,所述控制部件在所述显示部件显示第二信息。

13.根据权利要求12所述样本分析仪,其特征在于:

当所述直方图上出现的波峰数满足所述一定条件时,所述控制部件在所述显示部件显示第一信息,当所述直方图上出现的波峰数满足第二条件时,所述控制部件在所述显示部件显示第二信息。

14.根据权利要求12所述样本分析仪,其特征在于:

当所述直方图的倾斜度满足所述一定条件时,所述控制部件在所述显示部件显示第一信息,当所述直方图上出现的倾斜度满足第二条件时,所述控制部件在所述显示部件显示第二信息。

15.一种样本分析仪,包括:

光源部件,光照由样本和试剂制备的测定试样中所含粒子;

检测部件,检测所述测定试样的粒子产生的散射光和荧光;

显示部件;及

控制部件;

其中,所述控制部件执行以下操作:

相对于测定试样中的各个粒子,判断包含从检测出的各粒子的散射光和荧光获得的数值在内的数据属于几个预定数值范围中的哪一个;生成显示属于各数值范围的粒子数的直方图;及在所述显示部件显示生成的所述直方图。

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