[发明专利]一种屏幕显示方法及装置

权利要求书

1.一种屏幕显示方法，包括：

提示用户选择采样方式，在接收到用户选择的采样方式后，从屏幕上选择参考原点，以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距，按照各像素点的调整后的点距，重新确定各像素点的位置，并重新显示屏幕。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法还包括：

所述提示用户选择采样方式时，还提示用户输入点距偏移值；所述从屏幕上选择参考原点时，还选择调整点；

所述以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距的步骤包括：采用所述点距偏移值、参考原点的坐标值和调整点的坐标值，针对所述采样方式计算采样函数，使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于：

所述采样方式包含线性采样，该线性采样的采样函数为其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标，a为所述参考原点与调整点之间的距离，a由所述参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为所述点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去所述点距偏移值的结果。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于：

所述采样方式包含抛物线采样，该抛物线采样的采样函数为其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标，a为所述参考原点与调整点之间的距离，a由所述参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为所述点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去所述点距偏移值的结果。

5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距的步骤包括：

分别将屏幕上各像素点的横坐标代入所述采样函数，计算得到屏幕上各像素点调整后的点距。

6.一种屏幕显示装置，包括：数据获取模块、调整模块和屏幕显示模块，其中：

所述数据获取模块，用于提示用户选择采样方式，并接收用户选择的采样方式；

所述调整模块，用于在所述数据获取模块接收到所述用户选择的采样方式后，从屏幕上选择参考原点，以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距；

所述屏幕显示模块，用于在所述调整模块调整屏幕上各像素点的点距后，重新确定各像素点的位置，并重新显示屏幕。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于：

所述数据获取模块，还用于在提示用户选择采样方式时，提示用户输入点距偏移值，并接收用户输入的点距偏移值；

所述调整模块，还用于在从屏幕上选择参考原点时，选择调整点，所述以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距包括：采用所述数据获取模块接收到的点距偏移值，以及所选取的参考原点的坐标值和调整点的坐标值，为所述采样方式计算采样函数，使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于：

所述采样方式包含线性采样，该线性采样的采样函数为其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标，a为所述参考原点与调整点之间的距离，a由所述参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为所述点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去所述点距偏移值的结果。

9.如权利要求7所述的装置，其特征在于：

所述采样方式包含抛物线采样，该抛物线采样的采样函数为其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标，a为所述参考原点与调整点之间的距离，a由所述参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为所述点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去所述点距偏移值的结果。

10.如权利要求8或9所述的装置，其特征在于：

所述调整模块使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距时，分别将屏幕上各像素点的横坐标代入所述采样函数，计算得到屏幕上各像素点调整后的点距。