[发明专利]一种HIF控制器的功能测试方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种主机接口控制器的功能测试方法。

【背景技术】

SOC芯片上的主机接口，以下用HIF接口表示，所述HIF接口是目前SOC设计中普遍具备的一接口，主要应用于CPU与调制解调器设备，或者在手机开发中与基带处理器之间的高速数据传输，HIF接口一般都带有一定大小的双端口的SRAM缓冲器，所述HIF接口支持CPU和调制解调器设备之间其中任意一方采用中断的方式触发，完成双方的数据的交换。

目前大部分针对HIF接口的FT测试(最终测试或者说是功能测试)都是通过激励信号的方式，也就是在输入端输入一固定的测试信号，在输出端接收上述测试信号，然后将接收到的测试信号与正确信号进行比较。这样，在HIF接口中所用到的控制器和SRAM等芯片在芯片设计阶段就就需要设计好自测方式、输入激励信号格式以及自测返回信号等。这对于SRAM部分的测试覆盖是比较全面的，但是对于控制器和相应的寄存器来说则是很难测全的，这对自测技术的要求是相对比较高的。同时，如果采用这种测试方法的话，需要购买专门的测试机台，这样要求的成本自然也提高了，同时这样的测试也很难比较直观的确定芯片的该功能是否真正的能用。

【发明内容】

本发明要解决的技术问题，在于提供一种HIF控制器的功能测试方法，它能够简单、直观的进行功能测试，而且降低了测试的成本。

本发明是这样实现的：

一种HIF控制器的功能测试方法，具体包括如下步骤：

步骤10、将带SRAM的MCU屏接口设置在一辅助测试芯片上；

步骤20、将HIF接口分别与上述MCU屏接口、辅助测试芯片对应连接；

步骤30、通过HIF接口发送测试数据到MCU屏接口，将HIF接口发送的测试数据与正确数据进行比较，若错误，则判定HIF接口错误，若正确，则再通过MCU屏接口发送测试数据到HIF接口，将HIF接口接收的测试数据与正确数据进行比较，若错误，则判定HIF接口错误，若正确，才判定HIF接口正确。

进一步的，所述MCU屏接口为支持MCU屏的LCD控制器接口。

进一步的，所述步骤20中，所述HIF接口的有效信号线、读使能信号线，写使能信号线以及16bit的数据线分别与MCU屏接口的相对应的信号线、数据线相连接，所述辅助测试芯片还使用GPIO作为提示信号线和选择信号线，与HIF接口的中断引脚、检测引脚、数据传输启动引脚、SRAM地址块选择引脚相连接。

进一步的，如果HIF接口与MCU屏接口在同一颗IC或SOC芯片上，步骤30具体包括：HIF接口将测试数据传输到MCU屏接口，然后从MCU屏接口的SRAM中读取测试数据与正确的数据进行比较，若正确，则MCU屏接口传输测试数据到HIF接口，从HIF接口的SRAM中读取测试数据，与正确的数据进行比较，当两次比较都正确的时候，判定HIF接口为正确。

进一步的，如果HIF接口与MCU屏接口在不同的IC或SOC芯片上，步骤30具体包括：启动辅助测试芯片，所述辅助测试芯片拥有自身的用于初始化、接收数据、准备数据、请求中断的软件部分，所述HIF接口将测试数据传输到MCU屏接口，然后从MCU屏接口的SRAM中读取测试数据与正确的数据进行比较，若正确，则MCU屏接口传输测试数据到HIF接口，从HIF接口的SRAM中读取测试数据，与正确的数据进行比较，当两次比较都正确的时候，HIF接口为正确。

进一步的，所述测试数据根据测试需要和测试时间进行选择，所述选择的内容包括测试数据的复杂度和数据量的大小。

进一步的，HIF接口输出数据为000000000000001B，并且往后的每次传输都将1向左移一位作为一个数据，以测试每个数据线在1电平的时候是否正常；在MCU屏接口输出相反的数据11111111111110B，并且往后的每次传输都将0向左移一位，以测试每个数据线在0电平的时候是否正常。

进一步的，HIF接口输出0x0-0x4000范围内的所有偶数，而MCU屏接口输出0x0-0x4000范围内的所有奇数，以测试SRAM和相应的控制器是否正常。

本发明具有如下优点：

1.本发明方法是一个直观的测试方法，如果测试通过，则能说明该HIF的接口的功能基本能够实现，而且测试原理简单，在引脚封装测试都覆盖的前提下，模拟实际接口功能的使用情况，无需新的平台和语言甚至技术要求；

2.本发明方法的测试具有灵活性，可以根据测试的需要和测试时间对传输的测试数据进行选择，选择内容包括测试数据的复杂度和数据量的大小；