[发明专利]一种隔热透光装置

说明书

技术领域

本发明属于光学测径领域，具体涉及一种用于光学测径仪的隔热透光装置。

背景技术

本发明适用于测径领域的光学仪器，如光学测径仪，其特定的工作环境需要寻求在不影响测量设备可靠测量的同时又尽可能降低其工作复杂环境对测量设备所产生的影响。

测径仪是冶金行业生产线、棒材过程中同步进行轮廓线度(如直径圆度)等技术参数的测量仪器。现有测径仪在对生产的线、棒材进行测量时，往往伴随其测量产生以下问题：首先，由于所需测量的线、棒材均为高温件，其行进时在其周围产生的高温会极大的影响测径仪内部的精密测量部件的使用寿命；其次，由于测径仪的使用现场环境恶劣，灰尘水雾气极大，非常容易造成测量部件镜片的污染，进而造成测径仪不能正常工作；最后，刚轧制出的高温线、棒材在输送过程中，其表层接触空气后会不断发生氧化并掉落氧化皮或与内管发生摩擦而出现摩擦屑，氧化皮或摩擦屑掉落在测量部件的镜片上后会使镜片污染从而遮挡光线，进而影响所测量数据的准确性。因此，如何保证在高温线、棒材通过测径仪实施测量时，能在不影响测量光路通行的同时有效降低其工作复杂环境对测量设备所产生的负面影响，则是测径仪领域中所致力解决的问题之一。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于光学测径仪的隔热透光装置，能在不影响测量光路通行的同时大大降低其工作复杂环境对测量设备所产生的影响，从而提高测量精度。

为实现上述目的，本发明采用了以下技术方案：一种隔热透光装置，其外形呈管套状，所述隔热透光装置在其管壁上沿待测线、棒材轴心线对称设置有可供测量光线径向透射的隔热透光镜，隔热透光镜的镜面相互平行且与待测线、棒材的行进方向平行。

本发明的有益效果在于：当采用上述结构以后，不但在便于待测线、棒材通过的同时不影响测量光路的测量路径，其环状密封构造也大大降低了工作复杂环境对测径仪内部测量器件所产生的影响，从而提高了本发明所应用的测径仪的测量精度。

附图说明

图1为本发明的结构示意图；

图2为图1所示结构的半剖视图；

图3为图2中I部分的局部放大图；

图4为本发明的分解图；

图5为隔热透光镜的结构示意图；

图6为图5结构的半剖视图；

图7为外视镜片结构示意图；

图8为外视镜片的半剖视图。

具体实施方式

一种隔热透光装置，其外形呈管套状，所述隔热透光装置在其管壁上沿待测线、棒材轴心线对称设置有可供测量光线径向透射的隔热透光镜20，所述隔热透光镜20的镜面相互平行且与待测线、棒材的行进方向平行，如图1-2及图4所示。

进一步的，为更好实现本发明的隔热透光作用，隔热透光装置包括基体10，所述基体10呈管套状，所述的基体10的管壁上沿待测线、棒材轴心线对称设置有径向贯穿基体管壁的通孔11，所述的隔热透光镜20镜面两两相对的设置于通孔11处，如图2及图4所示。

作为本发明的优选方案，隔热透光镜20包括透光镜片21和用于夹持透光镜片21并防止透光镜片21发生位移的保持架22，如图2所示。考虑到本发明的适用环境，其势必导致安装在基体10上的隔热透光镜20的镜体经常性的遭受污染甚至破损，从而影响测量光路的通行，因此，本发明将隔热透光镜20与基体10间设置为可拆卸式连接，如图4-6所示，即通过及时更换上洁净完好的隔热透光镜20来取代污损镜片来达到保证测量光路畅通的目的，进而了保证测径仪的测量精度。

进一步的，本发明的基体10采用分体式构造，即基体10包括座体12和与座体12一端面固接的限位板13，如图2及图4所示，所述限位板13的另一侧端面固接在安装底板上，这是因为由于安装底板的板面上遍布精密测量器件，上述构造不仅保证了待测线、棒材在通过基体10管腔时，其传导给基体10的温度不至于直接传导到安装底板上安置的测量器件上，进而进一步的保证测径仪的测量精度，同时其分体式结构还为基体10整体的后期加工提供了方便，其限位板13的周边外形呈圆环状，也为基体10与安装底板间的可靠固接提供了保证。