[发明专利]位移测量装置和速度测量装置无效
申请号: | 201110020010.8 | 申请日: | 2011-01-18 |
公开(公告)号: | CN102192709A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | 福原隆 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01P3/68 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 李颖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 位移 测量 装置 速度 | ||
1.一种用于测量移动物体(102)的位移量的位移测量装置(100),所述位移测量装置包括:
光源,被配置为使用从发光区域(101)发射的光束来照射所述移动物体;
光接收元件,包含沿所述移动物体的移动方向被布置的多个光接收区域(104、105),所述光接收元件被布置为使得从所述发光区域(101)发射的并从所述移动物体中的凹面(103)被反射的光束在所述光接收元件的光接收表面上被成像;以及
测量单元,被配置为基于在所述光接收元件上形成的发光区域图像(106)的移动量来测量所述移动物体的位移量。
2.根据权利要求1的位移测量装置(100),所述位移测量装置(100)满足以下条件:
0.275≤We/Pd≤0.87,
这里,We是所述发光区域(101)在所述移动物体的移动方向上的宽度,Pd是彼此相邻的光接收区域(104、105)之间的在所述移动物体的移动方向上的间距。
3.根据权利要求1的位移测量装置(100),
其中,所述光源包含在所述移动物体的移动方向上被布置的偶数个发光区域,以及
其中,所述位移测量装置满足以下条件:
这里,L1是从所述光源的发光点到所述移动物体的多个凹面中的一个凹面的光路长度,L2是从所述移动物体的同一凹面到所述光接收元件的光路长度,Pe是彼此相邻地被布置的发光区域(401)之间的在所述移动物体的移动方向上的间距,N是发光区域的数量并且是偶数。
4.根据权利要求1~3中的任一项的位移测量装置(100),
其中,所述凹面被离散地或连续地设置在所述移动物体上,并且具有包含满足以下条件的曲率半径的形状:
R=(L1+L2)/2,
这里,R是所述多个凹面中的一个凹面的曲率半径,L1是从所述光源的发光点到所述移动物体的凹面的光路长度,L2是从所述移动物体的凹面到所述光接收元件的光路长度。
5.根据权利要求1~3中的任一项的位移测量装置(100),
其中,所述凹面以周期性的阵列被布置,以满足以下条件:
Pl=Pd/2×k,
这里,P1是所述凹面(103)的阵列周期,Pd是彼此相邻地被布置的光接收区域(104、105)之间的在移动物体的移动方向上的间距,k是正整数。
6.一种速度测量装置,包括根据权利要求1~3中的任一项的位移测量装置,
其中,所述速度测量装置被布置为基于在预定时间中由所述位移测量装置确定的移动物体的位移量来检测所述移动物体的速度。
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