[发明专利]小尺寸晶片抛光摩擦力在线测量装置无效
申请号: | 201110023576.6 | 申请日: | 2011-01-20 |
公开(公告)号: | CN102157413A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 金洙吉;苑泽伟;王坤;康仁科 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/304;B24B29/02 |
代理公司: | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人: | 梅洪玉 |
地址: | 116024 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 尺寸 晶片 抛光 摩擦力 在线 测量 装置 | ||
1.一种小尺寸晶片抛光摩擦力在线测量装置,包括抛光头、电阻应变仪、数据采集仪、导线以及计算机;抛光头结构主要由集电环(1)、配重块A(2)、配重块B(3)、配重块C(4)、弹性元件(5)、电阻应变片(7)组成;配重块C(4)底面有垂直于该面的孔,孔长度根据配重块尺寸及测试系统灵敏度要求确定,孔径比弹性元件直径略大。在配重块B(3)上加工出M6的螺纹孔,螺纹孔和配重块C(4)的光孔同轴;通过调节配重块B(3)的个数和高度可以实现不同的抛光压力;将一片晶片粘贴在弹性元件的端面,其余晶片均匀布置于配重块C底面;弹性元件(5)为圆柱体,比晶片尺寸略大,下端用于贴晶片,上端加工有M6的螺纹,用于与配重块B内部的螺纹孔连接,使其固定于配重块C的孔中;在装配过程中保证弹性元件(5)的圆柱部分不与配重块C(4)接触,弹性元件(5)的下端面与配重块C(4)下底面相平;配重块A(2)、配重块B(3)和配重块C(4)通过螺栓固定在一起。在距离弹性元件(5)上端约三分之一处绕弹性元件中心轴间隔90°分布两组电阻应变片(7);线栅方向与轴线方向相同,每组电阻应变片由两片相对的电阻应变片组成;电阻应变片采用半桥连接方式;集电环(1)固定于配重块上部A(2),用于输出摩擦力测量信号;抛光时晶片所受摩擦力使弹性元件(7)产生弹性变形,电阻应变片(7)将弹性应变转化成电信号,通过导线经由集电环(1)和电桥盒(14)输出到电阻应变仪(15)上,并通过数据采集仪(16)输入到计算机(17)。
2.根据权利要求1所述的小尺寸晶片抛光摩擦力在线测量装置,其特征是弹性元件(5)材料采用弹性模量较小的铝合金。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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