[发明专利]一种射频功率放大器多芯片模组及其生成方法有效
申请号: | 201110025537.X | 申请日: | 2011-01-24 |
公开(公告)号: | CN102610595A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 马平西;张黎阳;赵骞 | 申请(专利权)人: | 国民技术股份有限公司 |
主分类号: | H01L25/065 | 分类号: | H01L25/065;H01L21/98 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 杨立 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射频 功率放大器 芯片 模组 及其 生成 方法 | ||
1.一种射频功率放大器多芯片模组,其特征在于,包括CMOS裸片和连接在该CMOS裸片之后的GaAs裸片和/或SiGe裸片,所述CMOS裸片中包含CMOS前级功率放大器,所述GaAs裸片中包含GaAs后级功率放大器,所述SiGe裸片中包含SiGe后级功率放大器。
2.根据权利要求1所述的射频功率放大器多芯片模组,其特征在于,还包括连接在所述GaAs裸片和/或SiGe裸片之后的PHEMT裸片、SOI裸片或SOS裸片,所述PHEMT裸片中包含PHEMT开关,所述SOI裸片中包含SOI开关,所述SOS裸片中包含SOS开关。
3.根据权利要求1所述的射频功率放大器多芯片模组,其特征在于,所述CMOS裸片中还包含与所述CMOS前级功率放大器相连的CMOS开关。
4.根据权利要求1所述的射频功率放大器多芯片模组,其特征在于,所述CMOS裸片中还包含与所述CMOS前级功率放大器相连的CMOS偏置电路。
5.根据权利要求2所述的射频功率放大器多芯片模组,其特征在于,所述CMOS裸片、GaAs裸片和/或SiGe裸片以及PHEMT裸片/SOI裸片/SOS裸片并列排布在基板上,通过邦定线WireBond相连。
6.根据权利要求2所述的射频功率放大器多芯片模组,其特征在于,所述CMOS裸片正面朝上置于基板上,所述GaAs裸片和/或SiGe裸片以及所述PHEMT裸片/SOI裸片/SOS裸片正面朝上置于所述CMOS裸片上方,通过邦定线WireBond互连。
7.根据权利要求2所述的射频功率放大器多芯片模组,其特征在于,所述CMOS裸片正面朝上置于基板上,所述GaAs裸片和/或SiGe裸片以及所述PHEMT裸片/SO工裸片/SOS裸片正面朝下置于所述CMOS裸片上方,通过铜柱与所述CMOS裸片互连,所述CMOS裸片通过邦定线WireBond与基板互连。
8.根据权利要求2所述的射频功率放大器多芯片模组,其特征在于,所述GaAs裸片和/或SiGe裸片以及所述PHEMT裸片/SOI裸片/SOS裸片倒扣在所述CMOS裸片上,通过铜柱与所述CMOS裸片互连,所述CMOS裸片倒扣在基板上,通过铜柱与基板互连。
9.根据权利要求1至8任一项所述的射频功率放大器多芯片模组,其特征在于,所述射频功率放大器多芯片模组为两级放大器,CMOS裸片提供第一级放大器,GaAs裸片或SiGe裸片提供第二级放大器。
10.根据权利要求1至8任一项所述的射频功率放大器多芯片模组,其特征在于,所述射频功率放大器多芯片模组为三级放大器,CMOS裸片提供第一级和第二级放大器,GaAs裸片或SiGe裸片提供第三级放大器;或者,CMOS裸片提供第一级放大器,GaAs裸片或SiGe裸片提供第二级和第三级放大器;或者,CMOS裸片提供第一级放大器,SiGe裸片提供第二级放大器,GaAs裸片提供第三级放大器。
11.根据权利要求1至8任一项所述的射频功率放大器多芯片模组,其特征在于,所述射频功率放大器多芯片模组为m+n级放大器,CMOS裸片提供前m级放大器,GaAs裸片和/或SiGe裸片提供后n级放大器,m、n为自然数,且m+n大于3。
12.一种射频功率放大器多芯片模组的生成方法,其特征在于,用CMOS工艺生成射频功率放大器的前级CMOS裸片,用GaAs工艺和/或SiGe工艺生成射频功率放大器的后级GaAs裸片和/或SiGe裸片,将所述GaAs裸片和/或SiGe裸片连接在所述CMOS裸片之后且与该CMOS裸片置于同一基板上,得到所述射频功率放大器多芯片模组。
13.根据权利要求12所述的射频功率放大器多芯片模组的生成方法,其特征在于,还包括,用PHEMT工艺生成PHEMT裸片,或者用SOI工艺生成SOI裸片,或者用SOS工艺生成SOS裸片,将所述PHEMT裸片、SOI裸片或SOS裸片连接在所述GaAs裸片和/或SiGe裸片之后,且与所述CMOS裸片、所述GaAs裸片和/或SiGe裸片置于同一基板上。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国民技术股份有限公司,未经国民技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110025537.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:表面处理立体三维镭雕工艺
- 下一篇:高速静电复印机双组份显影用色调剂
- 同类专利
- 专利分类