[发明专利]低充氦浓度氦质谱检漏方法无效

专利信息
申请号: 201110026335.7 申请日: 2011-01-25
公开(公告)号: CN102346088A 公开(公告)日: 2012-02-08
发明(设计)人: 胡茂中;廖旭东;白国云;陈涛 申请(专利权)人: 中国人民解放军63653部队
主分类号: G01M3/20 分类号: G01M3/20
代理公司: 乌鲁木齐新科联专利代理事务所(有限公司) 65107 代理人: 欧咏
地址: 841700 新疆维吾*** 国省代码: 新疆;65
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摘要:
搜索关键词: 低充氦 浓度 氦质谱 检漏 方法
【权利要求书】:

1.低充氦浓度氦质谱检漏方法,其特征在于:装置由容器、通道型漏孔、纯氦气源、检漏仪构成;其中容器(3)的氦气(1)由隔离阀 (4)控制调节;纯氦气(7)由隔离阀 (6)控制调节;真空泵(2)由隔离阀 (5)控制调节;

步骤①关闭隔离阀 (5)、(6)处于截止状态,打开隔离阀(9)由检测仪(10)测量其系统本底;

步骤②关闭隔离阀(4),打开隔离阀(6),测量漏孔(8)入口处,纯氦气(7)的下漏率;

步骤③关闭隔离阀(6)、打开隔离阀(5),抽除漏孔(8)入口端的氦气(1),再打开隔离阀(4)测量其系统本底;

步骤④通过容器(3)进气口分步注入纯氦气(7),使容器(3)内的氦气(1)理论浓度分别为0.5‰、1‰、3‰、5‰,对应每一浓度测量氦气(1)通过漏孔(8)的漏率。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:氦气(1)是配置的气体,纯氦气(7) 为100%氦浓度的气体。

3. 根据权利要求1所述的方法,其特征在于:利用1‰氦浓度可使其检漏灵敏度为1.5×10-8 Pa·m3/s。

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