[发明专利]在磁共振设备中确定检查对象的子部位的状态及其结构有效

专利信息
申请号: 201110026549.4 申请日: 2011-01-25
公开(公告)号: CN102141604A 公开(公告)日: 2011-08-03
发明(设计)人: 简·O·布拉姆哈根;马塞厄斯·芬切尔;拉尔夫·雷德贝克 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/56 分类号: G01R33/56;G01R33/483;G01R33/38
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 磁共振 设备 确定 检查 对象 部位 状态 及其 结构
【权利要求书】:

1.一种用于在磁共振设备(1)中确定检查对象(4)的子部位(11)的状态的方法,其中该子部位(11)设置在磁共振设备(1)的视场(9,10)的边缘(10)上,该方法具有以下步骤:

对于MR图像确定至少一个层位置,在该至少一个层位置处在该MR图像的边缘(10)上的B0场满足预定的均匀性标准,

在确定的层位置处拍摄出MR图像,其中该MR图像包含在视场(9,10)的边缘(10)上的子部位(11),以及

通过MR图像中的子部位(11)的状态确定检查对象(4)的子部位(11)的状态。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在第一层平面拍摄所述MR图像,并且为了对于该MR图像确定其中MR图像边缘上的B0场满足预定均匀性标准的至少一个层位置,在第二层平面拍摄另一MR图像并且在该另一MR图像中对于该MR图像确定至少一个层位置,在该至少一个层位置处该另一MR图像边缘上的信号值满足预定的信号值标准。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第二层平面是检查对象(4)的冠状平面。

4.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于,执行以下步骤以对于所述MR图像确定其中MR图像边缘上的B0场满足预定均匀性标准的至少一个层位置:

在平行于该MR图像的层平面的层平面拍摄多个MR图像,并且

依据该多个MR图像中的其中边缘上的信号值满足预定信号值标准的那些MR图像的层位置来对于所述MR图像确定至少一个层位置。

5.根据权利要求2-4之一所述的方法,其特征在于,边缘上的那些超过预定阈值的信号值满足所述信号值标准。

6.根据权利要求2-5之一所述的方法,其特征在于,边缘上的那些具有与相邻信号值的预定信号值比的信号值满足所述信号值标准。

7.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于,为了对于所述MR图像确定其中MR图像边缘上的B0场满足预定均匀性标准的至少一个层位置,在包括视场(9,10)边缘(10)的视场(9,10)中确定B0场分布。

8.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于,检查对象(4)的子部位(11)包括患者(4)的解剖结构(11),该解剖结构设置在磁共振设备(1)的视场(9,10)的边缘(10)。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述解剖结构(11)包括患者(4)的手臂。

10.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于,所述磁共振设备(1)具有用于容纳检查对象(4)的通道形状的开口(5),其中视场(9,10)的边缘(10)包括沿着该通道形状开口(5)的内表面的外壳区域(10)。

11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述外壳区域(10)具有近似5cm的外壳厚度。

12.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于,在横向平面中拍摄所述MR图像。

13.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于,依据检查对象(4)的子部位(11)的确定的状态来确定针对正电子发射断层造影设备的衰减校正。

14.一种磁共振设备,其中该磁共振设备(1)包括用于控制具有用于在磁共振设备(1)的视场(9,10)中产生B0场的磁铁的断层造影装置(2)和用于接收由该断层造影装置拍摄的信号的控制单元(6)、和用于分析信号和产生MR图像的分析装置,其特征在于,磁共振设备(1)被构成为,使得该磁共振设备

对于MR图像确定其中MR图像边缘(10)上的B0场满足预定均匀性标准的至少一个层位置,

在确定的层位置拍摄MR图像,其中该MR图像包含在磁共振设备(1)的视场(9,10)的边缘(10)上的检查对象的子区域(11),以及

通过子部位(11)在该MR图像中的状态确定检查对象(4)的子部位(11)的状态。

15.根据权利要求14所述的磁共振设备,其特征在于,所述磁共振设备(1)被构成为执行根据权利要求1-12之一所述的方法。

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