[发明专利]一种智能卡数据存、取过程中的校验方法及智能卡无效

专利信息
申请号: 201110026933.4 申请日: 2011-01-25
公开(公告)号: CN102156828A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 虞涛;罗迎 申请(专利权)人: 北京握奇数据系统有限公司
主分类号: G06F21/00 分类号: G06F21/00
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 北京市朝阳区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 智能卡 数据 过程 中的 校验 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及智能卡领域,尤其涉及一种智能卡数据存、取过程中的校验方法及智能卡。

背景技术

目前,对智能卡数据完整性的保护和验证主要集中在卡外实体和卡片的数据通信过程中,即线路保护。在通信过程中,卡外实体用通信双方事先协商好的密钥对要传输的数据计算一个MAC(消息验证码)值,然后将数据本身和MAC值一起通过APDU(应用协议数据单元)的命令格式传递给卡片。卡片在接收完成之后,用同一密钥对数据进行MAC计算,之后和卡外实体计算的MAC值进行比较,如果一致,则证明数据在传递过程中没有被篡改,否则认为数据已被篡改,返回数据错误状态字给卡外实体。

现有技术标准和规范保证了数据在传输过程中的完整性,能够防止数据在线路上被篡改。卡片在接收到数据之后,会首先将数据存储在易失性存储器(例如RAM)中,以便于运算和验证,然后再将数据写入非易失性存储器(例如EEPROM)中;下次程序使用该数据时,会直接从非易失性存储器中读取该数据到易失性存储器中,此处称前述过程为非易失性存储器中存、取数据的过程。

发明人发现:数据在向非易失性存储器中写入,或从非易失性存储器中读取的过程中,若因某种不可知因素导致数据被篡改或者失效,则无法保证数据的真实性和有效性,这样非易失性存储器存、取过程中,数据就有可能失真或无效,读取到的数据就可能是非法数据,使用非法数据将会给使用该数据的卡片使用者或发卡方带来风险,造成使用上的损失。

发明内容

本发明实施例提供一种智能卡数据存、取过程中的校验方法及智能卡,能够防止非易失性存储器中存、取数据过程中,数据失真或无效的问题。

为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:

一种智能卡数据存、取过程中的校验方法,包括:

对要存储到非易失性存储器中的第一数据进行校验计算,得到第一校验值;

将所述第一数据和第一校验值存储到所述非易失性存储器中;

从所述非易失性存储器中读取出所述第一数据和第一校验值,根据所述校验方法,以及所述第一数据、第一校验值确定该第一数据是否合法。

一种智能卡,包括:

校验单元,用于对要存储到非易失性存储器中的第一数据进行校验计算,得到第一校验值;

存储单元,用于将所述第一数据和第一校验值存储到所述非易失性存储器中;

读取单元,用于从所述非易失性存储器中读取出所述第一数据和第一校验值;

判断单元,用于根据所述校验方法,以及所述第一数据、第一校验值确定该第一数据是否合法。

本发明实施例提供的智能卡数据存、取过程中的校验方法及智能卡,对要存储到非易失性存储器中的数据进行校验计算,得到校验值;将该数据和校验值存储到非易失性存储器中;从非易失性存储器中读取出该数据和校验值,根据上述校验方法、数据、校验值确定该数据是否合法。这样,通过增加数据向非易失性存储器的存、取过程中的校验,有效降低了从非易失性存储器中读取到非法数据的可能,从而保证了读取到的数据的有效性和真实性,防止了因数据非法所导致的用户使用上的损失。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的智能卡数据存、取过程中的校验方法的流程框图;

图2为本发明另一实施例提供的智能卡数据存、取过程中的校验方法的流程框图;

图3为本发明又一实施例提供的智能卡数据存、取过程中的校验方法的流程框图;

图4为本发明实施例提供的智能卡的结构框图;

图5为本发明实施例提供的智能卡的另一结构框图;

图6为本发明实施例提供的智能卡的又一结构框图;

图7为本发明实施例提供的智能卡的再一结构框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供的智能卡数据存、取过程中的校验方法,如图1所示,该方法步骤包括:

S101、对要存储到非易失性存储器中的第一数据进行校验计算,得到第一校验值。

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