[发明专利]试样分析装置和试剂管理方法有效
申请号: | 201110027243.0 | 申请日: | 2011-01-26 |
公开(公告)号: | CN102192995A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | 若宫裕二 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
主分类号: | G01N35/02 | 分类号: | G01N35/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 崔成哲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 试样 分析 装置 试剂 管理 方法 | ||
技术领域
本发明涉及至少组合使用第1试剂和第2试剂来进行规定的测定项目的分析的试样分析装置以及试剂管理方法、和具备具有液面探测传感器的试剂分注部的试样分析装置。
背景技术
以往,已知组合第1试剂和第2试剂来进行规定的测定项目的分析的试样分析装置。在日本专利特开No.2008-275585记载的试样分析装置中,在收容第1试剂的第1试剂容器和收容第2试剂的第2试剂容器中粘贴了条形码。根据由条形码读出器读出的试剂信息,在控制装置的硬盘中构筑的试剂数据库中,登记第1试剂容器和第2试剂容器的组合。
对于第1试剂容器和第2试剂容器,有时进行从试样分析装置取出而架设到其他试样分析装置中这样的运用。在该情况下,第1试剂容器和第2试剂容器的成对信息仅登记在原来的试样分析装置的试剂数据库中,所以在其他试样分析装置中,有时无法正确地组合第1试剂容器和第2试剂容器。此时,如果在其他试样分析装置的试剂数据库中登记了错误的成对信息,则第1试剂容器内的试剂的残量、有效期限、和其他第2试剂容器内的试剂的残量、有效期限不符合,本来可以使用的试剂有可能由于试剂容器的试剂的残量、有效期限,而变得无法使用。
另外,以往,已知具备具有液面探测传感器的试剂分注用的探测器(以下,称为“探测器”)的自动分析装置。例如,在日本专利特开No.H09-127136中,公开了可以将从探测器的基准位置到液面探测传感器探测液面为止的下降脉冲数存储于装置内的存储部中的自动分析装置。
在日本专利特开No.H09-127136记载的自动分析装置中,对存储部中存储的上次的下降脉冲数、与探测器探测到液面时的下降脉冲数进行比较,根据该比较结果判别液面探测的适当与否。由此,防止由于产生气泡等而引起的液面的误探测。
在检查室中设置了多台所述自动分析装置的情况下,如果将在某自动分析装置中使用的试剂容器设置到其他自动分析装置,则在其他自动分析装置的存储部中没有存储上次的下降脉冲数。因此,在设置了该试剂容器的自动分析装置中,有可能无法正确地判定液面探测的适当与否。
发明内容
因此,本发明提供:
(1)一种试样分析装置,至少组合使用第1试剂和第2试剂来进行规定的测定项目的分析,其特征在于,包括:
试剂容器保持部,能够保持收容所述第1试剂并具备第1存储介质的第1试剂容器、和收容所述第2试剂并具备第2存储介质的第2试剂容器;以及
控制部,
其中,所述控制部进行用于将用于确定与所述第1试剂容器成对的所述第2试剂容器的特定信息写入到该第1试剂容器的所述第1存储介质中的控制。
(2)根据(1)所述的试样分析装置,其特征在于,
所述第1存储介质存储用于管理所述第1试剂的第1试剂管理信息,
所述第2存储介质存储用于管理所述第2试剂的第2试剂管理信息,
所述控制部从所述第2存储介质取得所述第2试剂管理信息,并且将所取得的所述第2试剂管理信息中包含的信息作为所述特定信息写入到所述第1存储介质中。
(3)根据(2)所述的试样分析装置,其特征在于,
所述第1试剂管理信息以及第2试剂管理信息分别至少包括测定项目信息和批号,
所述控制部在从所述第1存储介质以及第2存储介质分别取得的所述测定项目信息相同时,将所述特定信息写入到所述第1存储介质中。
(4)根据(3)所述的试样分析装置,其特征在于,
所述第1试剂管理信息以及第2试剂管理信息分别包括对试剂附加的序列号,
所述控制部将所述第2存储介质中存储的所述序列号作为所述特定信息而写入到所述第1存储介质中。
(5)根据(4)所述的试样分析装置,其特征在于,
所述控制部根据从所述第1存储介质取得的所述特定信息和从所述第2存储介质取得的所述第2试剂管理信息,判别取得了所述特定信息的所述第1试剂容器和取得了所述第2试剂管理信息的所述第2试剂容器是否成对。
(6)根据(1)所述的试样分析装置,其特征在于,
所述第1存储介质存储对该第1存储介质固有地附加的第1固有信息,
所述第2存储介质存储对该第2存储介质固有地附加的第2固有信息,
所述控制部从所述第2存储介质取得所述第2固有信息,并且将所取得的所述第2固有信息作为所述特定信息写入到所述第1存储介质中。
(7)根据(1)所述的试样分析装置,其特征在于,
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