[发明专利]元件取出位置的示范方法以及电子元件安装装置无效

专利信息
申请号: 201110027358.X 申请日: 2011-01-26
公开(公告)号: CN102137588A 公开(公告)日: 2011-07-27
发明(设计)人: 小野哲治;熊谷大辅;吉井贵志 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术仪器
主分类号: H05K13/02 分类号: H05K13/02;H05K13/04;H05K13/08
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 郭定辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 元件 取出 位置 示范 方法 以及 电子元件 安装 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及取出构件在元件取出位置从元件供应装置取出电子元件的元件取出位置的示范方法以及电子元件安装装置。

背景技术

这种元件取出位置的示范方法例如公开于专利文献1等中。该专利文献1中公开了如下的技术,在显示装置上显示对元件供应单元的送出位置中的由电路板识别摄像机拍摄的图像和吸附嘴的图形进行叠加显示的画面,通过位置对准部件使图形显示的取出构件即吸附嘴和元件送出位置一致,从而掌握用于位置对准的移动量,并对元件取出位置进行相应于该移动量的校正。

[专利文献1](日本)特开2004-146661号公报

但是,在由摄像机一次性地拍摄元件供应装置中的元件取出位置时,无法收敛到摄像机视野内的较大的电子元件,无法实现电子元件的取出位置的示范。

发明内容

因此,本发明的目的在于,即使是无法收敛到摄像机视野内的较大的电子元件,也能够实现用于从元件供应装置取出电子元件的取出构件的元件取出位置的示范。

因此,第1发明是,取出构件从供应电子元件的元件供应装置取出电子元件的元件取出位置的示范方法中,其特征在于,

根据对象的电子元件的尺寸,计算用于将该电子元件分割为多个而进行拍摄的分割数目,

对于将处于所述元件供应装置的元件取出位置的所述电子元件进行所述分割而拍摄的工作,重复所述分割数目次,从而拍摄该电子元件的整体,

对该分割拍摄的多个图像进行合成,

将该合成后的电子元件的图像和对齐用的取出构件的图形显示在监视器上,

在该显示的画面上相对地移动该图像和所述图形,使得所述合成后的电子元件的图像中的所述元件取出位置和所述图形的位置对准,

将该移动量存储到存储部件中。

第2发明是,取出构件从供应电子元件的元件供应装置取出电子元件的元件取出位置的示范方法中,其特征在于,

将分割数目存储到存储装置,该分割数目为用于根据对象的电子元件的尺寸将该电子元件分割为多个进行拍摄而计算所得,

对于将处于所述元件供应装置的元件取出位置的所述电子元件进行所述分割而拍摄的事情,重复所述分割数目次,从而拍摄该电子元件的整体,

对该分割拍摄的多个图像进行合成,

将该合成后的电子元件的图像和对齐用的取出构件的图形显示在监视器上,

在该显示的画面上相对地移动该图像和所述图形,使得所述合成后的电子元件的图像中的所述元件取出位置和所述图形的位置对准,

将该移动量存储到存储部件中。

第3发明是,取出构件在元件取出位置从供应电子元件的元件供应装置取出电子元件后安装到电路板上的电子元件安装装置中,其特征在于,包括:

计算部件,根据对象的电子元件的尺寸,计算用于将该电子元件分割为多个而进行拍摄的分割数目;

摄像机,将处于所述元件供应装置的元件取出位置的所述电子元件重复地分割拍摄由所述计算部件计算出的分割数目次,从而拍摄电子元件的整体;

合成部件,对通过该摄像机分割拍摄的多个图像进行合成;

监视器,显示通过该合成部件合成后的电子元件的图像和对齐用的取出构件的图形;

位置对准部件,在该监视器中显示的画面上,相对地移动该图像和所述图形,使得所述合成后的电子元件的图像中的所述元件取出位置和所述图形的位置对准;以及

存储部件,存储基于该位置对准部件的移动量。

第4发明是,取出构件在元件取出位置从供应电子元件的元件供应装置取出电子元件后安装到电路板上的电子元件安装装置中,其特征在于,包括:

存储装置,将分割数目存储到存储装置,该分割数目为用于根据对象的电子元件的尺寸将该电子元件分割为多个进行拍摄而计算所得;

摄像机,将处于所述元件供应装置的元件取出位置的所述电子元件重复地分割拍摄在所述存储装置中存储的分割数目次,从而拍摄电子元件的整体;

合成部件,对通过该摄像机分割拍摄的多个图像进行合成;

监视器,显示通过该合成部件合成后的电子元件的图像和对齐用的取出构件的图形;

位置对准部件,在该监视器中显示的画面上,相对地移动该图像和所述图形,使得所述合成后的电子元件的图像中的所述元件取出位置和所述图形的位置对准;以及

存储部件,存储基于该位置对准部件的移动量。

本发明即使是无法收敛到摄像机视野内的较大的电子元件,也能够实现用于从元件供应装置取出电子元件的取出构件的元件取出位置的示范。因此,能够可靠地通过取出构件来取出位于元件供应装置的元件取出位置的电子元件。

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