[发明专利]多波长多光源漫反射式比色装置及反射率测定方法有效
申请号: | 201110027702.5 | 申请日: | 2011-01-26 |
公开(公告)号: | CN102175627A | 公开(公告)日: | 2011-09-07 |
发明(设计)人: | 段铁城;胡小宁;吴建中;闫万峰;杨张青;苏伟波;衡利沙 | 申请(专利权)人: | 河南农大迅捷测试技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27;G01N21/35 |
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地址: | 450002*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 波长 光源 漫反射 比色 装置 反射率 测定 方法 | ||
1.一种多波长多光源漫反射式比色装置,包括光路结构、光电检测电路、壳体,其特征在于,所述光路结构包括由不透光材料制成的基座平台、中盖和顶盖,所述中盖和顶盖的一端活动连接在基座平台上,在所述基座平台上设置有检测窗口,所述检测窗口由相应的光通道对应至少两个不同波长的单色光源,且在所述检测窗口的下方设置有光电传感器,在所述中盖上开设有对应所述检测窗口的条形狭缝,在所述顶盖的内侧设置有可嵌合于所述狭缝中的条形凸台,该凸台底面上匹配地设置有可更换反射板;所述光电检测电路包括微控制器单元、数据采集单元、恒流控制单元、显示单元、输入单元,所述数据采集单元接收来自光路结构中光电传感器产生的模拟信号并进行A/D转换后传递给微控制器单元进行处理,所述恒流控制单元根据微控制器单元发出的信号为所述光路结构中的单色光源恒流供电,所述显示单元、输入单元均由微控制器单元控制,完成相应的信息显示与信息输入任务。
2.根据权利要求1所述多波长多光源漫反射式比色装置,其特征在于,所述条形狭缝的宽度与通用试纸的宽度相匹配;所述光电传感器为RGB230、opt101、spd34s、TLS245中的任意一种。
3.根据权利要求1所述多波长多光源漫反射式比色装置,其特征在于一种屏蔽定向发射光,收集漫反射光的光路设计,其中包括三支入射光与反射板的角度的立体设计以及集光器与反射板的的角度的立体设计,其光路的空间分布为立体均匀分布,其与反射板的交角均为45~60°。
4.根据权利要求1所述多波长多光源漫反射式比色装置,其特征在于,所述光电检测电路中还包括串口通讯电路,以实现微控制器单元与外置设备的串口通讯。
5.根据权利要求1所述多波长多光源漫反射式比色装置,其特征在于,所述光电检测电路中还包括蜂鸣器电路,由微控制器单元控制完成按键反馈响应与提示及电路告警、设置时间提示的任务。
6.根据权利要求1所述多波长多光源漫反射式比色装置,其特征在于,所述光电检测电路中还包括时钟电路,由微控制器单元控制完成测试日期、时间实时记录任务。
7.根据权利要求1所述多波长多光源漫反射式比色装置,其特征在于,装置设有内置电源。
8.根据权利要求1所述多波长多光源漫反射式比色装置,其特征在于,所述光电检测电路中还包括电源控制电路,其根据微控制器单元的指令完成内置电源与外接电源的切换、充电检测、稳压控制。
9.根据权利要求1所述多波长多光源漫反射式比色装置,其特征在于,所述微控制器单元为MSP430F2XX系列、51系列单片机、AVR单片机、PIC单片机中的任意一种。
10.一种用权利要求1所述的多波长多光源漫反射式比色装置的进行比色测定的方法,其特征在于,以近红外波长为参照波长,以单个或两个可见光波长为测定波长照射待测样品,光电传感器采集样品漫反射的光波信号并转换为电流或电压信号后,经数据采集单元传递到微控制器单元,由其根据漫反射率与朗伯--比尔定律计算出待测物质浓度。
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