[发明专利]一种实现ECG导联脱落检测的方法和装置

权利要求书

1.一种实现ECG导联脱落检测的方法，其特征是：首先设定导联脱落的阈值范围；逐一采集各ECG导联通道中的任意一点信号，并对采集的信号间隔50mS-200mS进行切换输出；

对输出的信号进行峰值检波，若为直流信号，则峰值检波后直接输出该信号；

若为含有直流成分的工频干扰信号，则检测其峰值；

若峰值超过导联脱落阈值范围，则判断ECG导联脱落，否则，判断ECG导联未脱落。

2.根据权利要求1所述的一种实现ECG导联脱落检测的方法，其特征是：采集ECG导联连续信号的次数与导联通道数相同，且每个ECG导联通道只采集一次信号。

3.一种ECG导联脱落检测的装置，主要由MCU、AD转换器、数据选择器、低通滤波电路和峰值检波电路组成，其特征是：所述峰值检波电路由运算放大器U2和运算放大器U1、电阻R2、二极管D1、电容C2、电阻R3、组成；其中在运算放大器U1的输出端与运算放大器U2的输入端之间顺序连接电阻R2和二极管D1，电阻R3和电容C2串联后并联在二极管D1与运算放大器U2的输入端之间；同时运算放大器U2的输出反馈到运算放大器U1的反相输入端。

4.根据权利要求3所述的一种ECG导联脱落检测的装置，其特征是：运算放大器U2的输出反馈到运算放大器U1的反相输入端构成闭环负反馈，数据选择器将ECG导联信号逐一选择送入到低通滤波电路；滤波后的信号经所述峰值检波电路判断其峰值，超过导联脱落阈值范围，则判断ECG导联脱落，否则，判断ECG导联未脱落。

5.根据权利要求3所述的一种ECG导联脱落检测的装置，其特征是：运算放大器U1的输入端为正电平且电位不断升高时，则运算放大器U1跟随输出正电平，二极管D1导通，运算放大器U2输出为正电平，运算放大器U2跟随输出正电平；若运算放大器U1的输入端为正电平且不断降低，二极管D1截至，此时电容C2的电荷通过电阻R3缓慢泄放。

6.根据权利要求3所述的一种ECG导联脱落检测的装置，其特征是：MCU控制数据选择器约100mS切换一次，将ECG导联信号逐一切换输出至低通滤波电路滤波处理。

7.根据权利要求3所述的一种ECG导联脱落检测的装置，其特征是：若工频干扰较小，则ECG前级缓冲输出为直流信号，峰值检波电路的输出基本等于该直流信号；若工频干扰较大，ECG前级缓冲输出为带有直流成分的工频干扰，峰值检波电路检出该干扰信号的峰值并与设定的阈值比较。

8.根据权利要求3所述的一种ECG导联脱落检测的装置，其特征是：低通滤波电路包括电阻R1、电容C1；数据选择切换器与运算放大器U1的输入端之间设置电阻R1，同时在电阻R1与运算放大器U1输入端之间并联电容C1；其用于对数据选择器切换过程中的噪声进行滤波，滤波后的信号送入到峰值检波电路。