[发明专利]一种织物幅宽在线检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测方法，特别涉及一种织物幅宽在线检测方法。本发明适用于印染、纺织等技术领域中对织物幅宽的在线检测。

背景技术

目前，在印染行业中，涤纶机织物在涤纶产品中占有很高的比例，在涤纶机织物加工过程中，对涤纶机织物的幅宽指标的控制是非常重要的，因为服装面料对于成品布的幅宽有相当高的要求，织物幅宽控制得不好就无法得到高质量的成品布。但是在使用拉幅热定型机、预缩机等各类印染机械，对涤纶机织物进行丝光、预缩、拉幅定型等生产加工过程中，由于温度和张力等作用，涤纶机织物受到经向张力，迫使织物的经向伸长、纬向收缩，从而产生幅宽不匀、布边不齐等缺陷，造成涤纶机织物的幅宽偏差，影响织物的质量，因此必须对于涤纶机织物的幅宽进行实时有效的监测。目前，对于涤纶机织物进行检测主要采用直尺人工测量织物的幅宽，这种检测方法存在的主要缺陷是：(1)检测效率低，产品质量不稳定。采用人工方法进行检测，不但耗费大量的人力物力，人工成本高，费时费力，检测效率低，最为重要的是无法根据涤纶机织物在线情况进行实时监测和调整，造成涤纶机织物幅宽质量不稳定，难以保证产品质量的一致性，无法达到规模化、现代化生产的要求；(2)检测偏差大。采用直尺做为检测装置，这种传统的检测装置虽然延用已久，使用范围广，但其精度低，返修率高，容易产生废品，造成产品精度等级低、检测偏差大、产品质量差，已不能适应现今高质量织物幅宽产品的要求。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术的不足，提供一种检测快速准确、检测范围广、适于工业上应用的织物幅宽在线检测方法。

实现上述目的的技术方案是：一种织物幅宽在线检测方法，所述检测方法如下：待测织物的一面具有一组发光管，待测织物的另一面具有一组光敏元件，该组光敏元件设置的总宽度大于待测织物幅宽，且相邻光敏元件的中心距已知，位于待测织物幅宽区域中的光敏元件被待测织物遮挡，这些被遮挡的光敏元件将接收到的有别于未被遮挡的发光管的信号送至前置电路处理，然后再通过中央处理单元计算处理，得到光敏元件被待测织物遮挡的总个数B数据，然后进行程序运算，得到待测织物幅宽L的数据。

另外一种织物幅宽在线检测方法，所述检测方法如下：待测织物的同一面具有一组发光管和一组光敏元件，该组光敏元件设置的总宽度大于待测织物幅宽，且相邻光敏元件的中心距已知，位于待测织物幅宽区域中的光敏元件被待测织物反射，这些被反射的光敏元件将接收到的有别于未被反射的发光管的信号送至前置电路处理，然后再通过中央处理单元计算处理，得到光敏元件被待测织物反射的总个数B数据，然后进行程序运算，得到待测织物幅宽L的数据。

进一步，本发明检测方法的第一种技术方案或第二种技术方案中，所述一组光敏元件中相邻光敏元件的中心距相等，其程序运算公式为L＝(B-1)×S，S为相邻光敏元件的中心距。

进一步，所述一组光敏元件中相邻光敏元件的中心距相等，待测织物幅宽区域中的光敏元件处设置有幅宽初始值M，L＞M＞S，其程序运算公式为L＝(B-2)×S+M，S为相邻光敏元件的中心距。

进一步，所述一组光敏元件中相邻光敏元件的中心距不相等，其程序运算时L值等于位于待测织物幅宽区域中B-1段相邻光敏元件中心距的总和。

进一步，所述的发光管为红外发光二极管，光敏元件为红外光敏二极管。

进一步，所述的发光管为发光二极管，光敏元件为光敏三极管或光电池。

进一步，所述进行程序运算的同时，还通过程序对待测织物遮挡或反射的总个数B数据进行数据滤波的抗干扰处理。

更进一步，所述的相邻光敏元件中心距设置为1mm～10mm。

用本发明方法检测时使用的检测装置：包括有检测仪，还包括有与检测仪的中央处理单元相连接的一组光敏元件和发光管，该组光敏元件由一排或多排光敏元件组成。

采用上述技术方案后，具有很多好处：(1)检测快速准确，适于工业上应用。本发明一改传统的幅宽检测方法，无须人工测量，节省大量的人力物力，人工成本低，检测方法简单，检测效率高，检测偏差小，精度高，检测快速准确，适用于工业上应用。本发明对涤纶机织物幅宽进行在线实时监测，自动获取幅宽参数，这不但满足了规模化、现代化生产的需要，更为重要的是根据本发明监测情况可对生产工艺过程中的前段、中段分别进行幅宽的调整，从而使得涤纶机织物幅宽一致性好，幅宽质量稳定，返修率低，不易产生废品，且本发明检测精度高，检测偏差小，使得产品精度等级高，产品质量非常好；(2)检测范围广。本发明检测可对具有各种幅宽的织物进行检测，适用范围广。

附图说明