[发明专利]微粒分析设备和微粒分析方法

权利要求书

1.一种微粒分析设备，包括：

光源，被配置为用光照射微粒；

声光调制器，被配置为衍射由于所述光照射而从所述微粒生成的荧光；

狭缝，被配置为仅允许在来自所述声光调制器的衍射光束中衍射中心波长区中的衍射光透过；以及

检测器，被配置为检测透过所述狭缝的所述衍射中心波长区中的所述衍射光。

2.根据权利要求1所述的微粒分析设备，进一步包括：

控制器，被配置为将声波施加至所述声光调制器，并且不连续地切换所述声波的频率。

3.根据权利要求2所述的微粒分析设备，进一步包括：

检测器，被配置为检测由于所述光照射而从所述微粒生成的散射光，其中

所述控制器基于来自用于检测所述散射光的所述检测器的检测信号的输入来不连续地切换被施加至所述声光调制器的所述声波的所述频率。

4.一种微粒分析方法，包括步骤：

通过设置有对应于所检测的荧光波长区的衍射中心波长区的声光调制器来衍射由于光照射而从微粒生成的荧光；

使得来自所述声光调制器的衍射光透过仅允许在所述衍射中心波长区中的衍射光透过的狭缝；以及

检测透过所述狭缝的所述衍射中心波长区中的所述衍射光。

5.根据权利要求4所述的微粒分析方法，进一步包括步骤：

不连续地切换被施加至所述声光调制器的声波的频率。

6.根据权利要求5所述的微粒分析方法，其中：

在由于所述光照射而从所述微粒生成的散射光的检测期间，不连续地切换被施加至所述声光调制器的所述声波的所述频率。