[发明专利]使用于快速温度程序的温度感测系统

说明书

技术领域

本发明与光伏组件(photovoltaic devices)的制造技术有关，特别是指一种使用于快速温度程序的温度感测系统。

背景技术

现今的光伏组件，通常是在一玻璃基板或一弹性金属板(flexable metal foil)的上方设置一层钼层(Mo layer)，而于该钼层上进行光吸收层(例如CIGS(铜铟镓硒)层、CIS(铜铟硒)层)的制造，而在光吸收层制造时，必须将温度提高至摄氏500度以上，并且以溅镀、蒸镀、电镀或喷墨(ink-jet)的方式使之成形于该钼层上。

上述光吸收层的制造过程中，对于温度的提升方式，目前较主流的技术为RTP(Rapid Temperature Process)快速温度程序(下称RTP程序)，此种技术主要是在光伏组件的上方以热源对光伏组件的上表面进行加热。

在加热的过程中，对于玻璃基板的温度必须进行准确的测量，才能够正确的进行RTP程序。然而，在RTP程序中对于玻璃基板进行温度测量，是有其困难的，目前已知的温度测量方式，是以热电耦以及红外线高温计(pyrometer)来进行测量。

使用热电耦测量温度的方式，是属于接触式的，其主要是将热电耦置于待测物(即玻璃基板)表面才能进行温度测量。然而，热电耦置放的位置是受到限制的，其只能置于玻璃基板的边缘而无法置于玻璃基板的中间或制作光吸收层的区域，否则将会影响到光吸收层的制作。而仅置放于玻璃基板的边缘又只能侦测到边缘的温度，并不能侦测到玻璃基板的任意区域的温度，因此所测得的温度数据并不完整，RTP程序所控制的温度即无法正确，进而会影响光伏组件的制作质量。因此使用热电耦的测温技术并不是制作光伏组件时最佳的测温技术。

另外，使用红外线高温计的测温技术，虽然是属于非接触式的技术，但由于其主要是侦测待测物(即玻璃基板)所辐射出来的红外线，而在RTP程序中的加热组件对玻璃基板所发出的热源也含有大量的红外线，因此在侦测玻璃基板的红外线时，会大幅度的受到加热组件所发出的红外线所干扰，使得所测得的温度数据不准确，同样的会影响到光伏组件的制作质量。因此使用红外线高温计的测温技术并不是制作光伏组件时最佳的测温技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种使用于快速温度程序的温度感测系统，其可提供较公知技术更为准确的温度测量数据。

本发明的另一目的在于提供一种使用于快速温度程序的温度感测系统，其测得的温度数据准确，可进而提升光伏组件的制作质量。

为了达成前述目的，依据本发明所提供的一种使用于快速温度程序的温度感测系统，其中该快速温度程序用以对一光伏组件中间产品进行加热程序，该光伏组件中间产品具有一基板以及涂布于该基板的上表面且在成形中的至少一层光吸收层，该温度感测系统包含有：一腔室，内部用以置放一该光伏组件中间产品；一承台，用以承接该光伏组件中间产品；至少一热源，设于该腔室内的上方，向下发出红外线来对该光伏组件中间产品上的光吸收层进行加热；以及至少一黑体测温器，设于该腔室内，且面对于该光伏组件中间产品的光吸收层，用以侦测该光伏组件中间产品的光吸收层的黑体辐射，进而得到该光吸收层的温度。借此可更为准确的测得该光吸收层的表面温度，进而提升制作的质量。

附图说明

图1是本发明第一较佳实施例的结构示意图。

图2是本发明一较佳实施例的电路方块图，显示基板温度感测电路、热源温度感测电路以及额外热源温度感测电路的电路结构。

图3是本发明第二较佳实施例的结构示意图。

图4是本发明第二较佳实施例的辐射信号变化图。

图5是本发明第三较佳实施例的结构示意图。

具体实施方式

为了详细说明本发明的技术特点，兹举以下较佳实施例并配合附图说明如后，其中：

如图1至图2所示，本发明第一较佳实施例所提供的一种使用于快速温度程序的温度感测系统10，主要由一腔室11、一承台21、一热源31以及一黑体测温器41所组成，其中：

该快速温度程序是用以对一光伏组件中间产品91进行加热程序，该光伏组件中间产品91在本实施例中具有一基板92以及涂布于该基板92上表面且在成形中的至少一层光吸收层94。在本实施例中，该基板92是以玻璃材质为例，但也可为弹性金属板，并不限定于玻璃材质。

该腔室11，内部用以置放一该光伏组件中间产品91。

该承台21，用以承接该光伏组件中间产品91。