[发明专利]旋转光刻机有效
申请号: | 201110036695.5 | 申请日: | 2011-02-12 |
公开(公告)号: | CN102636961A | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
发明(设计)人: | 袁志扬;吴小传 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 旋转 光刻 | ||
技术领域
本发明涉及半导体制造设备领域,特别涉及一种旋转光刻机。
背景技术
在集成电路芯片的生产过程中,芯片的设计图形在硅片表面光刻胶上的曝光转印(光刻)是其中最重要的工序之一,该工序所用的设备称为光刻机(曝光机)。光刻机是集成电路加工过程中最关键的设备。国外早在多年前就已提出下一代光刻的概念,并对极紫外线光刻、电子束投影光刻、离子束投影光刻等技术进行了大量的研究,但由于工艺、生产效率、成本等诸多原因,这些技术目前仍然难以完全实用化。目前占市场主导地位的仍然是深紫外线投影光刻设备。
当前,绝大多数投入使用的是步进重复光刻机和步进扫描投影光刻机。步进重复光刻机中,整个像场同时曝光,这种系统容易设计和实现。随着市场不断提高对大尺寸、细线宽、高精度、高效率和低成本集成电路生产的需求,对半导体设备带来了前所未有的挑战。步进重复光刻机采用一次成像技术,为了增大像场要求更大直径的透镜系统作为支撑,但这一要求遇到了技术因素和经济因素的双重制约,从而限制了步进重复光刻机向更高精度、更大尺寸的芯片加工方向发展。
在这种情况下,步进扫描投影光刻机受到更多的青睐。步进扫描投影光刻机中,曝光过程与步进重复光刻机有所不同。光束通过一个狭缝并透过照明装置投影到掩模面上,掩模以设定的匀速通过这束光,同时,硅片在透镜的下方以相反方向运动。这种步进扫描光刻机与步进重复光刻机相比,具有更低的变形和更大面积的像场,同时,承载硅片的硅片台和承载掩模的掩模台都能够实现高速运动,使得步进扫描投影光刻机具有很高的生产率,从而更好地满足了市场对半导体芯片加工的需求。
请参考图1,其为现有的步进扫描投影光刻机的示意图。如图1所示,步进扫描投影光刻机1主要包括照明装置10、掩模台11、透镜12和硅片台13,当然,还包括连接上述各部件的框架(图1中未示出)。当需要对硅片进行光刻工艺时,将掩模100置于掩模台11上,硅片200置于硅片台13上,所述掩模台11和所述硅片台13反向(按图1中箭头所示的方向)按一定的速度比例作同步直线运动,最终将掩模100上的曝光图形成像于硅片200上,完成对硅片200的光刻工艺。
由于现有的步进扫描投影光刻机1的掩模台11和硅片台13需要反向按一定的速度比例作同步直线运动,从而导致整个步进扫描投影光刻机机台非常大,占用了大量的生产空间,提高了生产成本。
发明内容
本发明的目的在于提供一种旋转光刻机,以解决现有的步进扫描投影光刻机机台非常大,占用了大量的生产空间,提高了生产成本的问题。
为解决上述技术问题,本发明提供一种旋转光刻机,所述旋转光刻机包括:主框架;用以承载硅片的硅片台,所述硅片台设置于所述主框架内;用以将曝光图形成像于硅片上的曝光装置,所述曝光装置与所述主框架连接;所述硅片台绕其中轴作水平旋转;所述曝光装置沿所述硅片台作水平向移动。
可选的,在所述的旋转光刻机中,所述硅片台为中心旋转台,绕其中轴作360度水平旋转。
可选的,在所述的旋转光刻机中,所述中轴穿过所述硅片台的中心并与所述硅片台垂直。
可选的,在所述的旋转光刻机中,所述硅片台内设置有动平衡结构。
可选的,在所述的旋转光刻机中,所述曝光装置包括透镜和照明装置。
可选的,在所述的旋转光刻机中,所述曝光装置的数量为多个。
可选的,在所述的旋转光刻机中,所述曝光装置的数量为两个,两个所述曝光装置关于硅片台的中轴对称。
可选的,在所述的旋转光刻机中,还包括基础框架,所述主框架设置于所述基础框架内。
可选的,在所述的旋转光刻机中,所述主框架与所述基础框架间设置有减震器。
可选的,在所述的旋转光刻机中,还包括用以承载掩模的掩模台,所述掩模台与所述主框架连接。
可选的,在所述的旋转光刻机中,所述掩模台为旋转台,承载掩模作水平旋转。
可选的,在所述的旋转光刻机中,还包括用以承载掩模的掩模框,所述掩模框固定在所述硅片台上。
可选的,在所述的旋转光刻机中,还包括用以拾取掩模的掩模拾取器,所述掩模拾取器与所述主框架连接。
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