[发明专利]一种快速准确测定低湿气体露点的方法和装置无效
申请号: | 201110036871.5 | 申请日: | 2011-02-12 |
公开(公告)号: | CN102636519A | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
发明(设计)人: | 章啸;李军远 | 申请(专利权)人: | 北京兴泰学成仪器有限公司 |
主分类号: | G01N25/66 | 分类号: | G01N25/66 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 101102 北京市通州区金*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 快速 准确 测定 低湿 气体 露点 方法 装置 | ||
1.一种快速准确测定低湿气体露点的装置,包括冷镜室、制冷电路、光电测量电路、温度测量电路,控制器和输入输出单元;其中冷镜室内有发光二极管、光敏二极管、制冷单元、反射镜面及铂电阻温度传感器;光电测量电路与冷镜室内的发光二极管和光敏二极管连接,制冷电路与冷镜室内的制冷单元连接,温度测量电路与铂电阻温度传感器连接;控制器控制制冷电路、光电测量电路和温度测量电路的协调工作;其特征在于所述的控制器包括以下控制步骤:
记录镜面反/散射光能量的初始值;
实时采集镜面反/散射光能量;
计算镜面反/散射光能量的变化,并判断是否超过某一设定值;
计算控制制冷电压的数字量,并转换成制冷工作电压;
计算制冷电压调整前后的温度变化量,并判断是否低于某一设定值;
控制制冷工作电压,使镜面反/散射光能量能量及其变化量接近设定值。
2.一种快速准确测定低湿气体露点的方法,运用如权利要求1所述的装置,它包括如下步骤:
控制器记录反射镜面的反/散射光的能量的初始值R0,并实时监测镜面快速降温过程中反射镜面的反/散射光的能量Rx,计算它们的差值ΔR;
当ΔR超过某一设定值时,记录此时的镜面温度T1和反/散射光的能量R1,作为预判的露点温度和反射光能量设定值;
按照K1×(R1-Rx)+K2×(T1-Tx)计算并调整制冷电压,其中K1和K2为特征常数;
当T1-Tx小于0.2度时,适当调整制冷电压,控制调整前后的反/散射光能量变化率趋近于零,且反射光能量达到设定值;
测定此时镜面温度即为被测气体的露点。
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