[发明专利]具有被动组件结构的半导体结构及其制造方法无效
申请号: | 201110037482.4 | 申请日: | 2011-02-01 |
公开(公告)号: | CN102169861A | 公开(公告)日: | 2011-08-31 |
发明(设计)人: | 施旭强;李德章;谢孟伟 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48;H01L21/48 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆勍 |
地址: | 中国台湾高雄市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 被动 组件 结构 半导体 及其 制造 方法 | ||
1.一种具有被动组件结构的半导体结构,包括:
一绝缘基板;
一被动组件结构层,形成于该绝缘基板;
一第一电性触点,形成于该被动组件结构层;以及
一第一介电层,覆盖该第一电性触点的一部分,其中该第一介电层具有一第一开孔,该第一电性触点的另一部分从该第一开孔露出。
2.如权利要求1所述的半导体结构,其中该绝缘基板具有一第一贯孔,该半导体结构更包括:
一第二电性触点,形成于该第一贯孔。
3.如权利要求2所述的半导体结构,其中该绝缘基板具有相对的一第一面与一第二面,该被动组件结构层形成于该绝缘基板的该第一面,该第二电性触点的一部分位于该第一贯孔内,该第二电性触点的另一部分邻近该绝缘基板的该第二面形成。
4.如权利要求2所述的半导体结构,更包括:
一第一种子层,形成于该绝缘基板与该第二电性触点之间。
5.如权利要求1所述的半导体结构,其中该被动组件结构层包括:
一第一线路层,形成于该绝缘基板上;
一第二介电层,覆盖该第一线路层,其中该第二介电层具有一第二贯孔、一第一面及一第二贯孔内侧壁,该第二贯孔从该第二介电层的该第一面延伸至该第一线路层,该第二贯孔内侧壁对应于该第二贯孔,该第一线路层从该第二贯孔露出;
一第二线路层;
一第二种子层,形成于该第二线路层与该第二介电层之间;以及
其中,该第一电性触点形成于该被动组件结构层的该第二线路层上。
6.如权利要求5所述的半导体结构,其中该第二线路层具有一露出表面,该第一电性触点覆盖该第二线路层的整个该露出表面。
7.如权利要求5所述的半导体结构,其中该第二线路层具有一露出表面,该第一电性触点仅覆盖该第二线路层的该露出表面的一部分。
8.如权利要求1所述的半导体结构,其中该绝缘基板玻璃基板或陶瓷基板。
9.如权利要求1所述的半导体结构,更包括:
一环状结构,环绕该被动组件结构层的被动组件。
10.一种具有被动组件结构的半导体结构的制造方法,包括:
提供一绝缘基板;
形成一被动组件结构层于该绝缘基板;
形成一第一电性触点于该被动组件结构层;以及
形成一第一介电层覆盖该第一电性触点的一部分,其中该第一介电层具有一第一开孔,该第一电性触点的另一部分从该第一开孔露出。
11.如权利要求10所述的制造方法,更包括:
形成一第一贯孔贯穿该绝缘基板;以及
形成一第二电性触点于该第一贯孔。
12.如权利要求11所述的制造方法,其中于该提供该绝缘基板的该步骤中,该绝缘基板具有相对的一第一面与一第二面;于形成被动组件结构层的该步骤中,该被动组件结构层形成于该绝缘基板的该第一面;于形成该第二电性触点的该步骤中,该第二电性触点的一部分位于该第一贯孔内,该第二电性触点的另一部分邻近该绝缘基板的该第二面形成。
13.如权利要求11所述的制造方法,其中于形成该第一贯孔的该步骤中,该绝缘基板具有对应该第一贯孔的一第一贯孔内侧壁,于形成该第二电性触点的该步骤之前,该制造方法更包括:
形成一第一种子层于该第一贯孔内侧壁;
于形成该第二电性触点的该步骤中,该第二电性触点形成于该第一种子层上。
14.如权利要求13所述的制造方法,更包括:
移除该第一种子层的一部分,其中该第一种子层的该部分未被该第二电性触点覆盖。
15.如权利要求10所述的制造方法,其中于形成该第一电性触点的该步骤中,该第一电性触点由镍层、钯层与金层中至少一者所组成。
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