[发明专利]可精调尺寸的千分尺研磨器

说明书

技术领域

本发明属于计量工具技术领域，具体涉及一种外径千分尺测量面研磨的专用工具。

背景技术

作为计量工具，外径千分尺必须定期进行检定和修复，如外径千分尺测量面的平面度及相对测量面之间的平行度，当其不合格时，需要用研磨的方法进行修复。而研磨千分尺测量面的常规方法是用专用的千分尺研磨器。一般的千分尺专用研磨器用铸铁制成，四块一组，同一组研磨器中各件的两工作面之间工作尺寸，从小到大尺寸差是千分尺测微螺杆螺距0.5mm的1/4，即0.125mm。比如说，一件测量范围为0～25mm的外径千分尺，修磨其两测量面平行度时，所用的研磨器一组共四块，工作尺寸分别为24.00mm、24.12mm、24.24mm及24.36mm，修理时，用这一组的四块研磨器，依照从小到大的次序，分别夹在千分尺两测量面之间进行轮换研磨，直到千分尺两测量面平行度达到计量检定规程的技术要求，经若干次研磨以后，研磨器由于磨损失效报废，只能丢弃，造成浪费。另有用机器进行研磨的，如中国专利公告号为CN 2073790U，名称为“ 一种千分尺研磨机”的实用新型专利，它由研磨器、千分尺夹头、大导轨、小导轨、大蜗轮、小蜗轮、蜗杆、电动机、长偏心轴、短偏心轴和中间杆等所组成，在电动机带动下，大导轨和小导轨分别作横向和纵向往复直线运动，此二运动合成在一起使研磨器作近似“８”字形运动，避免重复原来的研磨轨迹，研磨面磨损均匀，能延长研磨器的寿命。但是这种千分尺研磨机的结构复杂、成本高，由于动作幅度大，用于研磨千分尺测量面不易做到细致，研磨精度难以控制，而且采用多路综合传动影响平面度的提高。

发明内容

本发明需要解决的技术问题是，克服现有技术的研磨机传动复杂影响研磨精度的缺陷，提供一种研磨尺寸可精确控制、结构简单、成本低廉的千分尺研磨器。

本发明的目的是通过下述技术方案予以实现的：

一种可精调尺寸的千分尺研磨器，包括研磨器基体，所述研磨器基体的下端面为研磨面，研磨器基体的内腔为圆柱形的导向面，研磨器基体上端侧面均布有若干个限位孔，研磨器基体上端面为调整支承面；在研磨器基体上端套有调整环，调整环内部设有内螺纹，调整环外圆面均布有与所述限位孔相对应的光孔，调整环内侧上部底面与研磨器基体上端面的调整支承面相抵压；有一研磨块插在研磨器基体及调整环中间，研磨块为阶梯状结构，其顶部为研磨头，其中部设外螺纹，其下部为圆柱形的导向段，导向段侧面设有导向槽，研磨块的外螺纹与调整环的内螺纹配合，研磨块的导向段与研磨器基体的导向面滑动配合；有一导向锁紧螺钉与设在研磨器基体侧面的螺孔配合，导向锁紧螺钉的前端与研磨块的导向段侧面的导向槽配合；有若干根限位销，各限位销将调整环外圆面的一个光孔与研磨器基体上端侧面的限位孔之一锁定。若干根限位销分别穿过调整环上的各个光孔，使调整环与研磨器基体牢靠地连接；转动调整环，带动与调整环螺纹的研磨头，由于受所述导向锁紧螺钉的限制，研磨头不能转动只能向上或向下滑动，从而可以微调研磨器基体的下端面与研磨头上面之间的距离。

作为优选，所述研磨块的外螺纹螺距为0.5mm，所述限位孔与光孔的个数各为四个。转动一个光孔的位置，可使研磨块沿轴向移动四分之一螺距，即0.5/4=0.125mm。

作为优选，所述研磨器基体上端侧面设有环形槽，所述限位孔设在环形槽的槽底部；设有环形槽可使限位销在脱出限位孔后不会完全脱离研磨器基体，避免调整环连带研磨块产生浮动现象。

本发明的有益效果是：

1、结构简单、操作方便、精度高；

2、研磨器磨损后可调整补偿，节约资源。

附图说明

图1是本发明一种实施例的结构示意图；

图2是本发明实施例研磨器基体的示意图；

图3是图2的A-A剖面示意图。

图中，研磨器基体1；研磨面11；导向面12；限位孔13；调整支承面14；环形槽15；调整环2；光孔21；研磨块3；研磨头31；外螺纹32；导向槽33；限位销4；导向锁紧螺钉5。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方案对本发明作进一步描述。