[发明专利]半导体设备用高品质6061铝合金锻件制备方法有效
申请号: | 201110039889.0 | 申请日: | 2011-02-17 |
公开(公告)号: | CN102644039A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | 杜鹏;闫晓东;范荣辉;沈健 | 申请(专利权)人: | 北京有色金属研究总院 |
主分类号: | C22F1/04 | 分类号: | C22F1/04;B21J5/00 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人: | 程凤儒 |
地址: | 100088 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 备用 品质 6061 铝合金 锻件 制备 方法 | ||
1.半导体设备用高品质6061铝合金锻件制备方法,以6061铝合金为加工对象,采用半连铸工艺制坯,双级均匀化工艺热处理,在压力机上进行锻造,锻造采用少火次、大锻比、低终锻温度的成形工艺,最后进行高温短时固溶和低温长时时效的热处理,获得性能优良的半导体设备用高品质6061铝合金锻件,具体包括如下步骤:
(1)半连铸工艺制取锻造铸坯;
(2)采用双级均匀化制度对铸坯进行热处理退火;
(3)在压力机上对热处理后的铸坯进行锻造成形为锻件;
(4)对锻件进行固溶时效处理,是采用高温短时固溶和低温长时时效的热处理工艺,获得半导体设备用高品质6061铝合金锻件。
2.根据权利要求1所述的半导体设备用6061铝合金锻件的制备方法,其特征在于:步骤(2)中所述的双级均匀化制度,其中第一级温度为540~570℃,第二级温度为570~620℃。
3.根据权利要求1所述的半导体设备用6061铝合金锻件的制备方法,其特征在于:步骤(3)中所述的锻造过程具体工艺如下:铸坯锻前加热温度为460~500℃;压力机砧板的预热温度为300~350℃;锻造火次最多不超过3次,采用2-3火次锻造时每一火次的镦粗锻比控制在4~6,采用一火锻造时锻造比控制在7~9之间;火次之间的保温温度在460~480℃之间,保温时间根据锻件厚度确定,5mm以下保温20min,锻件厚度每增加4mm,保温时间延长1min;锻造火次最多不超过3次;锻件的终锻温度控制在320~360℃之间。
4.根据权利要求1所述的半导体设备用6061铝合金锻件的制备方法,其特征在于:步骤(4)中所述的固溶温度为520~540℃,锻件厚度在5mm以下保温45min,厚度每增加1mm,保温时间增加1min;人工时效保温温度为160~180℃,保温时间在16~25h之间。
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