[发明专利]用于硬盘缺陷区域检测和分类的基于频率的方法

权利要求书

1.一种用于检测或分类硬盘上的缺陷区域的以机器实现的方法，该方法包括：

(a)接收与存储在硬盘上的具有第一数据频率的数据模式的数据相对应的信号值(例如，x[n]，y[n])；

(b)产生与所述第一数据频率相对应的第一测量(例如W[n])；

(c)产生与不同于所述第一数据频率的第二数据频率相对应的第二测量(例如Z[n])；和

(d)基于所述第一测量和所述第二测量，检测或分类缺陷区域。

2.如权利要求1所述的发明，其中所述信号值是：(1)由与所述硬盘相关联的读取通道的模数转换器产生的模数转换器(ADC)输出信号值，或(2)由与所述硬盘相关联的读取通道的均衡器产生的均衡器输出信号值。

3.如权利要求1所述的发明，其中：

所述第一测量是所述第一数据频率的第一离散傅立叶变换(DFT)测量；和

所述第二测量是所述第二数据频率的第二DFT测量；

4.如权利要求1所述的发明，其中：

所述第一数据频率是2T数据频率；和

所述第二数据频率是DC数据频率。

5.如权利要求1所述的发明，其中：

步骤(b)包括产生：(i)与所述缺陷区域相对应的所述信号值的第一数据频率分量的第一平均强度值(例如，X_m[n])，和(ii)与所述硬盘上的一个或更多个无缺陷区域相对应的所述第一数据频率分量的第二平均强度值(例如，X_m，d)，

步骤(c)包括产生：(i)与缺陷区域相对应的所述信号值的第二数据频率分量的第一平均强度值(例如，Z_m[n])，和(ii)与硬盘上的一个或更多个无缺陷区域相对应的所述第二数据频率分量的第二平均强度值(例如，Z_m，d)；和

步骤(d)包括：

(d1)对所述第一数据频率分量的所述第一平均强度值和所述第二平均强度值进行比较；

(d2)对所述第二数据频率分量的所述第一平均强度值和所述第二平均强度值进行比较；和

(d3)基于步骤(d1)和(d2)的比较，检测所述硬盘上的所述缺陷区域的位置。

6.如权利要求5所述的发明，其中步骤(d3)包括：如果步骤(d1)的比较或步骤(d2)的比较为真，则检测到所述硬盘上的所述缺陷区域的位置。

7.如权利要求5所述的发明，其中：

步骤(d1)包括：确定所述第一数据频率分量的所述第一平均强度值是否小于所述第一数据频率分量的所述第二平均强度值的第一指定小数部分(例如，α₁)，其中所述第一指定小数部分小于1；和

步骤(d2)包括：确定所述第二数据频率分量的所述第一平均强度值是否大于所述第二数据频率分量的所述第二平均强度值的第二指定小数部分(例如，α₃)，其中所述第二指定小数部分小于1。

8.如权利要求1所述的发明，其中：

步骤(b)包括：产生与所述缺陷区域相对应的所述信号值的第一数据频率分量的平均强度值(例如，X_m，c)；

步骤(c)包括：产生与所述缺陷区域相对应的所述信号值的第二数据频率分量的平均强度值(例如，Z_m，c)；和

步骤(d)包括：

(d1)对所述第一数据频率分量的平均强度值和所述第二数据频率分量的平均强度值进行比较；和

(d2)基于步骤(d1)的比较，将所述硬盘上的所述缺陷区域分类为与热粗糙(TA)或下降介质缺陷(MD)相关联。

9.如权利要求8所述的发明，其中：

步骤(d1)包括：确定所述第一数据频率分量的平均强度值是否小于所述第二数据频率分量的平均强度值的指定小数部分(例如，α₂)，其中所述指定小数部分小于1。

10.一种用于检测或分类硬盘上的缺陷区域的装置，该装置包括：

用于接收与存储在硬盘上的具有第一数据频率的数据模式的数据相对应的信号值(例如，x[n]，y[n])的装置；

(b)用于产生与所述第一数据频率相对应的第一测量的装置；

(c)用于产生与不同于所述第一数据频率的第二数据频率相对应的第二测量的装置；和

(d)用于基于所述第一测量和所述第二测量，检测或分类所述缺陷区域的装置。