[发明专利]测试电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种电路技术，尤其是一种测试电路。

背景技术

对电子设备的I/O端口进行检测时，通常仅通过亮灯指示检测结果，没有声音报警装置，操作者易疲劳出错。而且，在检测过程中，I/O端口的信号一般通过三极管等常用电子器件直接输入到检测电路的单片机，有可能由于输入信号的电压过高而损坏单片机。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种具有较佳检测能力且不易损坏的测试电路。

一种测试电路，其包括一光耦合器、一单片机、一开关三极管以及一驱动芯片。所述光耦合器包括两个输入端以及两个输出端，所述光耦合器的两个输入端与待测端口连接，光耦合器的其中一个输出端与所述单片机的输入端连接，光耦合器的另一个输出端接地。单片机的输出端与所述开关三极管的基极连接。所述开关三极管的发射极与一外接电源连接，所述开关三极管的集电极与驱动芯片的输入端连接。所述驱动芯片的输出端与一警示设备连接。当光耦合器向所述单片机输入低电平信号时，所述单片机输出低电平信号使得开关三极管导通而输入所述外接电源的电压，所述驱动芯片输出驱动信号以驱动所述警示设备工作。

本发明的测试电路通过使用光耦合器来输出信号至所述单片机，避免当被测端口存在高电压时，该高电压被输出至单片机而损坏所述单片机。另外，通过增加一个开关三极管来接入所述外接电源，能够稳定地为所述驱动芯片提供工作电压。而且，除该光耦合器可发出光信号以提示用户外，该驱动芯片输出的信号可驱动各种警示设备发出警示信号，能够更加方便地帮助用户获知待测电路的工作性能。

附图说明

图1是本发明实施方式提供的测试电路的电路图。

主要元件符号说明

测试电路                                    100

待测端口                                    200

光耦合器                                    10

发光二极管                                  11

光耦合器的输入端                            111、113

光耦合器的输出端                            115、117

感光三极管                                  13

单片机                                      20

单片机的输入端                              20a

单片机的输出端                              20b

开关三极管                                  30

驱动芯片                                    40

信号输入端                                  40a

电源输入端                                  41

驱动芯片的输出端                            43

外接电源                                    50

直流电源                                    60

警示设备                                    70

第一电阻                                    R1

第二电阻                                    R2

具体实施方式

以下将结合附图，对本发明作进一步的详细说明。