[发明专利]磁场测量装置有效

专利信息
申请号: 201110046374.3 申请日: 2011-02-25
公开(公告)号: CN102135604A 公开(公告)日: 2011-07-27
发明(设计)人: 李海江 申请(专利权)人: 哈姆林电子(苏州)有限公司
主分类号: G01R33/07 分类号: G01R33/07
代理公司: 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 代理人: 陆明耀;陈忠辉
地址: 215121 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 磁场 测量 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种磁场测量装置,尤其涉及一种微型多磁极磁铁的磁场测量装置。

背景技术

现有技术中,测量磁铁表面磁场的工具一般为高斯计,高斯计是一种相对比较精密的测量仪器,尤其是探头部分的霍尔片,其对磁场敏感度高,能够测量平面磁场中各个位置的磁场强度,并通过计量表表示出来。对于微型的分布多个磁极的磁场,想要测出其中各区域的磁场强度,目前常用的是人工手动的方法,用高斯计对准磁铁上的各区域点进行测量,由于磁铁本身就很微小,定位十分困难,因此,不仅测量的准确率低,测量数据不可靠,工作效率也降低。

发明内容

鉴于上述现有技术存在的缺陷,本发明的目的是提出一种可用于测量微型多磁极磁铁的磁场测量装置。

本发明的目的,将通过以下技术方案得以实现:

一种磁场测量装置,用于测量微型多磁极磁铁的磁场,包括高斯计,还包括一底座,所述底座上设有一转盘支架,所述转盘支架一侧设有旋转盘,另一侧设有用于固定微型磁铁的磁铁架,所述磁铁架和旋转盘之间通过轴承连接转动;靠近所述磁铁架一侧的底座上设有用于固定所述高斯计的支架;所述微型磁铁包括至少2个测试点,所述旋转盘的旋转中心与所述各测试点的外接圆的圆心一致,所述高斯计的探头位于所述外接圆的圆周轨迹上。

进一步的,上述的磁场测量装置,其中:所述旋转盘与一电动传动装置连接。

进一步的,上述的磁场测量装置,其中:所述旋转盘与一齿轮传动装置连接。

本发明只需通过转动旋转盘,即可使微型多磁极磁铁的测试点的位置精确地对准高斯计的探头,操作简单,使用方便,准确率高,提高了工作效率。

以下便结合实施例附图,对本发明的具体实施方式作进一步的详述,以使本发明技术方案更易于理解、掌握。

附图说明

图1是本发明实施例的结构示意图;

图2是本发明实施例的俯视图;

图3是本发明实施例的主视图;

图4是本发明实施例的左视图;

图5是本发明实施例的右视图。

具体实施方式

实施例

本发明的磁场测量装置,可用于测量多磁极微型磁铁的平面磁场强度,其结构如图1-5所示,包括高斯计1,还包括一底座3,所述底座3上设有一转盘支架4,所述转盘支架4一侧设有旋转盘6,另一侧设有用于固定微型磁铁7的磁铁架5,所述磁铁架5和旋转盘6之间通过轴承连接转动;所述微型磁铁7可以通过过盈配合、嵌入或者紧固的方式固定在磁铁架5上。靠近所述磁铁架5一侧的底座3上设有用于固定所述高斯计1的支架2;所述微型磁铁7包括至少2个测试点,所述旋转盘6的旋转中心与所述各测试点的外接圆的圆心一致,所述高斯计1的探头位于所述外接圆的圆周轨迹上。所述旋转盘6可以手动控制旋转,也可以通过与一电动传动装置连接或者一齿轮传动装置连接,驱动旋转。

应用本发明的磁场测量装置,测量多磁极微型磁铁的平面磁场强度时,首先将高斯计1的探头对准其中一个测试点,测量该测试点的磁场强度,测量结束后,转动旋转盘6,转动的角度为上一个测试点与下一个测试点在上述外接圆上的半径之间的夹角度数(小于180度),转动完毕后,即可开始测量该测试点的磁场强度,以后各测试点的测试方法以此类推,最终可以得出整个多磁极微型磁铁的磁场分布情况。本发明操作简单,使用方便,准确率高,提高了工作效率。

本发明尚有多种实施方式,凡采用等同变换或者等效变换而形成的所有技术方案,均落在本发明的保护范围之内。

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