[发明专利]数据错误检查方法、数据传输方法和半导体存储装置

权利要求书

1.一种半导体存储装置，所述半导体存储装置包括数据错误检查电路，其中，所述数据错误检查电路被配置为通过对列数据集和行数据集执行错误检查来产生错误检查信号，所述列数据集和所述行数据集包括经由多个数据输入/输出端子而输入或输出的多个数据段。

2.如权利要求1所述的半导体存储装置，其中，对所述列数据集的错误检查与对所述行数据集的错误检查被同时地执行。

3.如权利要求1所述的半导体存储装置，其中，所述数据错误检查电路包括：

第一发生单元，所述第一发生单元被配置为通过对所述列数据集执行错误检查来产生列错误检查信号；以及

第二发生单元，所述第二发生单元被配置为通过对所述行数据集执行错误检查来产生行错误检查信号。

4.如权利要求1所述的半导体存储装置，其中，所述数据错误检查电路包括多个异或门，并且所述数据错误检查电路被配置为通过由所述多个异或门对所述列数据集和所述行数据集执行运算来产生所述错误检查信号。

5.一种数据错误检查方法，包括以下步骤：

在时钟信号的每半个周期对经由多个输入端子连续输入的数据执行第一错误检查；

在所述时钟信号的每半个周期对经由所述多个输入端子输入的数据执行第二错误检查；以及

根据所述第一错误检查的结果和所述第二错误检查的结果来确定是否发生了错误。

6.如权利要求5所述的数据错误检查方法，其中，通过执行异或运算来执行所述第一错误检查和所述第二错误检查。

7.如权利要求5所述的数据错误检查方法，其中，确定是否发生了错误的步骤包括以下步骤：根据所述第一错误检查的结果来检测单比特错误。

8.如权利要求5所述的数据错误检查方法，其中，在确定是否发生了错误的步骤中包括以下步骤：通过将所述第一错误检查的结果与所述第二错误检查的结果进行组合来检测多比特错误。

9.一种数据传输方法，包括以下步骤：

对准备用于外部传输的多个数据段的列数据集和行数据集执行错误检查来产生错误检查信号；以及

将所述错误检查信号设置到分配给所述列数据集的多个单位时间间隔中来执行数据传输。

10.如权利要求9所述的数据传输方法，其中，在产生错误检查信号的步骤中，所述错误检查信号包括通过对所述列数据集和所述行数据集执行异或运算而获得的结果。

11.如权利要求9所述的数据传输方法，其中，

所述错误检查信号包括列错误检查信号和行错误检查信号，以及

在执行数据传输的步骤中，将所述列错误检查信号和所述行错误检查信号之一设置到所述多个单位时间间隔的冗余单位时间间隔中。

12.一种半导体存储装置，包括：

错误检查电路，所述错误检查电路被配置为通过执行在数据组的列方向和行方向上的错误检查操作来产生错误检查信号；

输入/输出电路，所述输入/输出电路被配置为将所述错误检查信号设置到分配给所述数据组的单位时间间隔中，并传送所述错误检查信号；以及

核心模块，所述核心模块包括用于记录所述数据组的存储区域。

13.如权利要求12所述的半导体存储装置，其中，所述错误检查电路被配置为通过将外部错误检查信号与在所述错误检查电路中产生的所述错误检查信号进行比较来产生比较信号。

14.如权利要求13所述的半导体存储装置，其中，所述比较信号被提供给所述核心模块或所述输入/输出电路，以便减少错误数据被记录在所述半导体存储装置上。

15.如权利要求12所述的半导体存储装置，其中，所述输入/输出电路包括数据输入/输出端子，所述数据输入/输出端子用于根据所述单位时间间隔传送数据组的列方向上的数据集。