[发明专利]电磁流量计有效
申请号: | 201110047891.2 | 申请日: | 2011-02-28 |
公开(公告)号: | CN102252717A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
发明(设计)人: | 饭岛拓也 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G01F1/58 | 分类号: | G01F1/58 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 杨谦;胡建新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电磁流量计 | ||
技术领域
本发明涉及对流体等的被测量物的各种特性和/或状态量直接或间接地进行观测或测量的电磁流量计。
背景技术
以往,作为测量物理量的测量装置之一公知有测量液体流量的电磁流量计。电磁流量计在线圈中流动电流而在测量管内形成磁场,由电极取得与在该测量管中流动的液体的流速成正比地产生的电动势,检测该电动势的大小来测量流量。在这样的电磁流量计的测量管的内表面,为了防止腐蚀,通常实施利用了氟树脂、聚氨酯树脂(polyurethane resin)、橡胶等的涂敷层。
在这样的电磁流量计中使用的电极是与被测量物直接接触的部分。该电极的结构公知有通常被称为外插型和内插型等的结构等,其中,所述外插型的结构,从流通或封入有被测量物的容器的外侧向容器内插入电极,利用弹簧(spring)等将该电极从容器的外侧向容器按压,由此来确保气密性(seal:密封)(例如,具有日本特许公报、特许第3765407号公报(以下称为专利文献1),日本公开特许公报、特开平4-95719号公报(以下称为专利文献2),日本公开特许公报、特开2004-163193号公报(以下称为专利文献3));所述内插型的结构,从容器的内侧朝向外侧插入电极,从容器的外侧利用弹簧等向外侧拉拽该电极,由此使电极头部与容器紧贴来确保气密性(密封)(例如,具有日本公开特许公报、特开平11-83569号公报(以下称为专利文献4),日本公开特许公报、特开平4-198816号公报(以下称为专利文献5),日本公开特许公报、特开2007-240231号公报(以下称为专利文献6),日本公开特许公报、特开平4-95819号公报(以下称为专利文献7),日本公告实用新型公报、实公平3-55865号公报(以下称为专利文献8))。
但是,在上述的内插型的电极中,通常利用外侧的弹簧向外侧拉拽电极而使电极头部与容器内表面紧贴来保持气密性(密封),但是在所按压的弹簧的两端面没有被加工为平行的情况下,或虽然加工为平行但弹簧由于卷绕方法的关系而毁坏从而变得不平行的情况下,或弹簧的中心与电极的中心偏离的情况下,成为倾斜地拉拽电极,而连续倾斜地拉拽电极的结果,由于涂敷层材料随时间变化,电极变得倾斜,电极头部背面的平面或突起进入涂敷层材料中的量出现差异,从而损害电极部的气密性(密封)。
图8是表示在以往的电磁流量计中使用的内插型电极的结构例的图。如图8所示,在弹簧4的两端没有被研磨为平行的情况下,电极3a变得倾斜,电极3a的头部相对于涂敷层材料的进入量因部位而不同。长此以往,进入量小的部分的气密性降低,将成为漏气的原因。
另外,图9是表示进行研磨之后的弹簧4与没有进行研磨的弹簧4的外观的图。在以往的电磁流量计中,以防止上述的漏气为目的通常通过研磨将弹簧4的两端面加工为平行,而为了研磨而需要花费时间、劳力、成本等。
此外,如专利文献7记载的技术那样,在内插型中,气密保持部(密封部)是比电极头部靠里面的密封件,若如上所述那样电极倾斜,则电极与涂敷层材料之间的间隙扩大而使被测量物易于渗透至气密性保持部(密封部),所以存在因氧浓差电池产生的腐蚀、因析出物产生的气密性(密封)损害以及密封件因腐蚀性物质而熔解的问题。
在外插型的电极中,利用弹簧等从外侧按压电极来确保气密性(密封),因此,在弹簧的两端面没有被加工为平行的情况下,或虽然加工为相互平行但弹簧由于卷绕方法的关系而毁坏从而变得不平行的情况下,或弹簧的中心与电极的中心偏离的情况下,成为倾斜地按压电极,而连续倾斜地按压电极的结果,由于涂敷层材料随时间变化,电极变得倾斜,从而损害电极部的气密性(密封)。
图10是表示在以往的电磁流量计中使用的外插型电极的结构例的图。如图10所示,在弹簧4的两端没有被研磨为平行的情况下,电极3b变得倾斜,与内插型一样,电极3b的头部相对于涂敷层材料的进入量因部位而不同。长此以往,进入量小的部分的气密性降低,将成为漏气的原因。
此外,在外插型的电极的情况下,电极的气密性保持部(密封部)不由在容器内与被测量物直接接触的电极头部构成,而由在接近容器外侧的部分上设置的O形环或垫圈构成,在如上所述那样电极倾斜的情况下,电极与涂敷层材料之间的间隙扩大,被测量物易于渗透至气密性保持部(密封部)。结果,存在如下问题,即,在被测量物具有腐蚀性的情况下,在浸透部分产生氧浓差电池等而腐蚀电极,在被测量物具有析出性的情况下,在浸透部分析出被测量物而使涂敷层材料与电极之间的间隙扩大,破坏气密性。
发明内容
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