[发明专利]基于特征值分布统计特性的极化SAR图像分类方法有效

专利信息
申请号: 201110049008.3 申请日: 2011-03-01
公开(公告)号: CN102122352A 公开(公告)日: 2011-07-13
发明(设计)人: 缑水平;焦李成;乔鑫;王爽;吴建设;朱虎明;李阳阳;费全花 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 特征值 分布 统计 特性 极化 sar 图像 分类 方法
【权利要求书】:

1.基于特征值分布特性的极化SAR图像分类方法,包括以下步骤:

(1)对待分类极化SAR图像的所有像素点进行特征值分解;

(2)分别对每个像素点分解得到的大小不同的特征值λ1,λ2,λ3按照从大到小的顺序进行排序,使λ1≥λ2≥λ3

(3)从待分类极化SAR图像中依据实际地物分布,人工构造待分类极化SAR图像中k类匀质区域集合:C={C1,...,Ck},并提取出所选取k类匀质区域的特征值;

(4)采用EM算法分别对k类匀质区域的特征值λ1,λ2,λ3的高斯混合模型参数进行估计,得到每类匀质区域的各个特征值的概率密度分布函数:其中λ为某类匀质区域的某个特征值、ω为高斯函数的混合权重、μ为均值参数、σ为方差参数、m为高斯函数的混合个数、μi为第i个高斯函数的均值,σi为第i个高斯函数的方差,i=1,2,...,k;

(5)利用步骤4求得的每类匀质区域的各个特征值的概率密度分布函数,计算每类匀质区域的特征值联合概率密度分布函数:

p(x|xCi)=Πj=13p(λj|μ,σ),]]>

其中,x为匀质区域Ci中的像素点,λj为像素点x的第j个特征值,i=1,2,...,k,j=1,2,3;

(6)根据MAP原则,依据表达式:x∈Ci st.p(x|Ci)=maxp(x|x∈Ck),i=1,2,...,k,对待分类极化SAR图像中所选匀质区域的全部像素点进行分类,并输出分类结果。

2.根据权利要求1所述的极化SAR图像分类方法,其中步骤(1)所述的对待分类极化SAR图像的所有像素点进行特征值分解,按照如下步骤进行:

2a)将待分类极化SAR图像像素点的T矩阵作为输入数据;

2b)利用MATLAB软件中的eigs函数对输入的每个像素的T矩阵进行特征值分解,得到特征值。

3.根据权利要求1所述的极化SAR图像分类方法,其中步骤(4)所述的采用EM算法分别对k类匀质区域的特征值λ1,λ2,λ3的高斯混合模型参数进行估计,按照如下步骤进行:

3a)将各类匀质区域的特征值λ1,λ2,λ3分别作为EM算法的输入数据;

3b)设定EM算法所求解的高斯混合模型中高斯函数的混合个数m值为1、混合权重ω为1,EM算法迭代终止条件为算法的迭代误差小于1.0E-06,初始化均值μ和方差σ为随机值;

3c)通过EM算法中的期望最大化流程对均值μ和方差σ进行更新,每次更新后计算算法的迭代误差并判断是否满足迭代终止条件,满足迭代终止条件时迭代停止,输出得到输入特征值的均值μ和方差σ;

3d)将混合个数m、混合权重ω和输出的均值μ、方差σ代入式:

p(λ|ω,μ,σ)=Σi=1mωi×12πσiexp(-(x-μi)22σi2)]]>

得到输入特征值的概率密度分布函数。

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