[发明专利]测量溶液中颗粒迁移率的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201110050936.1 申请日: 2011-02-25
公开(公告)号: CN102192867A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: H-T·谢;S·P·特雷奥夫 申请(专利权)人: 怀亚特技术公司
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 赵蓉民;张全信
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 测量 溶液 颗粒 迁移率 方法 装置
【权利要求书】:

1.测量样品溶液的等分试样中颗粒的电泳淌度的装置,包括:

A)产生相干单色光光束的装置;

B)将所述相干单色光光束分割为以下光束的光学装置:

1)将通过所述样品的样品光束,和

2)参比光束;

C)由以下组成的非传导性样品池:

1)容纳所述样品等分试样的槽,

2)电极,在所述电极之间电压可以施加在其中包含的所述样品等分试样上,和

3)在所述槽中的光学窗口,通过该光学窗口:

a)所述样品光束可以进入所述槽并且由其中包含的所述等分试样中的颗粒散射,

b)所述样品光束和由所述样品等分试样中的所述颗粒散射的一部分光可以离开所述样品池;

D)使离开所述样品池的未散射的所述样品光束和由所述颗粒散射并离开所述样品池的所述一部分所述样品光束光聚集和准直的光学装置;

E)相对于所述样品光束的光学相位调制所述参比光束的光学相位的装置;

F)合并所述参比光束与由所述颗粒散射的所述准直部分的光而形成第三相干光束的、在自由空间中的光学装置;

G)光检测器元件阵列,所述第三相干光束入射在其上,每个所述检测器元件由此产生随时间变化的信号;和

H)电子装置,其处理接收自每个所述光检测器元件的所述随时间变化的信号,将所述信号转化成数字表示,并将生成的数字信号传输到计算机装置以由此计算所述电泳淌度。

2.权利要求1所述的装置,其中所述调制所述参比光束的光学相位的装置包括驱动后向反射装置的压电致动器。

3.权利要求2所述的装置,其中所述后向反射装置是直角棱镜。

4.权利要求2所述的装置,其中所述后向反射装置由反射表面彼此互相垂直的两个镜组成。

5.权利要求3所述的装置,其中所述直角棱镜的斜表面是减反射涂布的。

6.权利要求1所述的装置,其中所述光检测器元件是光电二极管。

7.权利要求1所述的装置,其中所述光检测器元件阵列是一维的。

8.权利要求1所述的装置,其中所述光检测器元件阵列是二维的。

9.权利要求1所述的装置,其中所述样品池槽包含输入和输出流装置,由此所述样品等分试样可以注入所述槽中和从所述槽中去除。

10.权利要求1所述的装置,其中所述样品池是可互换单元。

11.权利要求10所述的装置,其中所述可互换样品池单元是一次性的。

12.权利要求1所述的装置,其包括在与所述样品光束重新合并之前使所述参比光束准直的装置。

13.权利要求12所述的装置,其中所述使所述参比光束准直的装置包括发散透镜和会聚透镜。

14.权利要求1所述的装置,其中所述使所述样品光束聚集和准直的装置包括会聚透镜。

15.权利要求1所述的装置,其中所述单色相干光光束由激光器产生。

16.权利要求1所述的装置,其中所述样品光束聚焦在所述样品池的中心。

17.权利要求1所述的装置,其中所述样品光束的未散射部分通过中性密度滤光器衰减。

18.权利要求17所述的装置,其中所述样品光束的所述衰减的、未散射部分入射在所述光检测器阵列的单个元件上,由此提供样品光束监测器。

19.权利要求1所述的装置,还包括与所述电极接触、使所述样品池的温度能够控制的装置。

20.权利要求1所述的装置,其中分割所述相干单色光光束成为所述参比和样品光束的所述光学装置包括分光器。

21.权利要求1所述的装置,其中合并所述参比光束与由所述颗粒散射的所述准直部分的光、在自由空间中的所述光学装置包括分光器。

22.权利要求1所述的装置,其中使离开所述样品池的未散射的所述样品光束和由所述颗粒散射并离开所述样品池的所述一部分所述样品光束光聚集和准直的所述光学装置包括非球面透镜。

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