[发明专利]一种频率校正方法和装置有效

专利信息
申请号: 201110054538.7 申请日: 2011-03-08
公开(公告)号: CN102141771A 公开(公告)日: 2011-08-03
发明(设计)人: 冯向光;顾奇龙;喻琪 申请(专利权)人: 无锡辐导微电子有限公司
主分类号: G04C9/02 分类号: G04C9/02
代理公司: 无锡互维知识产权代理有限公司 32236 代理人: 王爱伟
地址: 214125 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 频率 校正 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种频率校正方法,其特征在于,其包括:

获得参考频率信号的实际频率以及该实际频率与其期望频率的频率偏移;

根据目标频率信号的频率及所述参考频率信号的期望频率确定分频比;

根据所述频率偏移确定所述分频比的校正值;

利用所述校正值校正所述分频比得到校正分频比;和

利用所述校正分频比对所述参考频率信号进行分频得到所述目标频率信号。

2.根据权利要求1所述的频率校正方法,其特征在于:所述分频比为所述参考频率信号的期望频率和所述目标频率信号的频率的比值,所述校正值包括整数校正值和分数校正值,

所述利用所述校正值校正所述分频比得到校正分频比包括:将所述整数校正值与所述分频比相加或相减作为校正分频比的整数,将所述分数校正值作为所述校正分频比的余数。

3.根据权利要求2所述的频率校正方法,其特征在于:所述利用所述校正分频比对所述参考频率信号进行分频得到所述目标频率信号包括:

对所述参考频率信号的周期进行计数得到一计数值;

在所述计数值从初始值开始所述目标频率信号的一个周期,在所述计数值达到所述校正分频比的整数时结束所述目标频率信号的这个周期,并重新从初始值开始对所述参考频率信号的周期进行计数,以生成下一个周期的目标频率信号,

其中每产生一个周期的目标频率信号,将所述分数校正值累加至所述校正分频比的余数上一次,在所述累加的余数满一个整数后,给所述校正分频比的整数进位得到所述校正分频比的进位后整数,之后在所述校正分频比的新的余数基础上继续进行累加所述分数校正值,基于所述校正分频比的进位后整数产生一个周期的目标频率信号后,将所进位后整数恢复至原整数。

4.根据权利要求2或3所述的频率校正方法,其特征在于:根据所述频率偏移的1/ft所占的期望频率的周期的个数及余分数确定所述整数校正值和分数校正值,其中ft为目标频率信号的频率。

5.根据权利要求1所述的频率校正方法,其特征在于:所述分频比为所述参考频率信号的期望频率和所述目标频率信号的频率的比值的一半,所述校正值包括整数校正值和分数校正值,

所述利用所述校正值校正所述分频比得到校正分频比包括:将所述整数校正值与所述分频比相加或相减作为校正分频比的整数,将所述分数校正值作为所述校正分频比的余数。

6.根据权利要求5所述的频率校正方法,其特征在于:所述利用所述校正分频比对所述参考频率信号进行分频得到所述目标频率信号包括:

对所述参考频率信号的周期进行计数得到一计数值;

在所述计数值达到所述校正分频比时翻转所述目标频率信号,并重新从初始值开始对所述参考频率信号的周期进行计数,

其中每产生半个周期的目标频率信号,将所述分数校正值累加至所述校正分频比的余数上一次,在所述累加的余数满一个整数后,给所述校正分频比的整数进位得到所述校正分频比的进位后整数,之后在所述校正分频比的新的余数基础上继续进行累加所述分数校正值,基于所述校正分频比的进位后整数产生半个周期的目标频率信号后,将所进位后整数恢复至原整数。

7.根据权利要求5或6所述的频率校正方法,其特征在于:根据所述频率偏移的的1/2ft,所占的期望频率的二倍周期的个数及余分数确定所述整数校正值和分数校正值,其中ft为目标频率信号的频率。

8.一种频率校正装置,其特征在于,其包括:

温度获取模块,获取晶体振荡器的温度;

频率信号产生模块,从所述晶体振荡器中获取参考频率信号的实际频率;

频率偏移生成模块,根据所述温度获取所述参考频率信号的实际频率与其期望频率的频率偏移;和

频率校正模块,根据目标频率信号的频率及所述参考频率信号的期望频率确定分频比,并根据所述频率偏移确定所述分频比的校正值,利用所述校正值校正所述分频比得到校正分频比,利用所述校正分频比对所述参考频率信号进行分频得到所述目标频率信号。

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