[发明专利]一种矩形石英晶片缺陷自动检测分类识别方法

权利要求书

1.一种矩形石英晶片缺陷自动检测分类识别方法，其特征在于：该方法包括下列步骤：步骤10)、在原始图像中提取矩形石英晶片的长边并计算其斜率；步骤20)、进行图像旋转，使矩形石英晶片的长边在图像中呈水平走向；步骤30)、进行图像分割，从背景中分离出矩形石英晶片目标；步骤40)、基于矩形石英晶片目标及其相关参数，建立矩形石英晶片模板；步骤50)、外围断条缺陷的检测和识别；步骤60)、外围边缘不齐缺陷的检测和识别；步骤70)、外围崩边缺陷的检测和识别；步骤80)、边缘处崩边缺陷的检测和识别；步骤90)、边缘处边缘不齐缺陷的检测和识别；步骤A0)、边缘处炸口缺陷的检测和识别；步骤B0)、边缘处划痕缺陷的检测和识别；步骤C0)、内部炸心缺陷的检测和识别；步骤D0)、内部划痕缺陷的检测和识别；步骤E0)、内部阴影缺陷的检测和识别。

2.根据权利要求1所述的一种矩形石英晶片缺陷自动检测分类识别方法，其特征在于：所述的步骤10)中包括：步骤110)、使用Prewitt算子对原始图像进行边缘检测；步骤120)、计算边缘检测结果图像的平均灰度值，根据该灰度值设置适当的门限，对边缘检测结果图像进行二值化处理；步骤130)、使用Thin算子对二值化处理结果图像进行细化处理；步骤140)、用细化处理结果图像中的每两个非零点(非零点对)确定一条直线，计算并保存每条直线的用最简整数分式表示的斜率(以下也简称为整数斜率)；步骤150)、对取相同整数斜率的直线进行计数，得到取各种整数斜率的直线的数目，找出其中最大的数目N_max；步骤160)、针对确定L{k_Nmax}中直线的每一个非零点对，计算该直线的用最简整数分式表示的截距(以下也简称为整数截距)；步骤170)、对L{k_Nmax}中取相同整数截距的直线归类，每一类代表一条直线，分别记作L_i(i＝1，2，3，…，m)；步骤180)、如果m大于一定的数值，而且没有任何一个Num_i(D)具有绝对的优势，则基于L_i{(D_F，D_L)}，计算L_i上非零点对构成的最大直线段长度，记作Length(L_i)，最大直线段长度对应的非零点对记作(D_F，D_L)_i；以各个(D_F，D_L)_i中的非零点重新进行两两组合，构成多个新的非零点对，再计算整数斜率，再对取相同整数斜率的直线进行计数，得到取各种整数斜率的直线的数目，找出其中最大的数目LN_max，LN_max对应的直线的整数斜率记作k_LNmax；k_LNmax即为矩形石英晶片的长边的斜率。

3.根据权利要求1所述的一种矩形石英晶片缺陷自动检测分类识别方法，其特征在于：所述的步骤30)中包括：步骤310)、使用Prewitt算子对旋转之后的矩形石英晶片图像进行边缘检测；步骤320)、计算边缘检测结果图像的平均灰度值，记为Gav；步骤330)、用可变门限系数(可变门限系数记作Ef，其初始值可以设为一个较大的数值)乘以Gav作为门限，对边缘检测结果图像进行二值化处理，即将灰度值大于门限的点置成白色，灰度值小于门限的点置成黑色；步骤340)、对二值化处理结果图像的白色区域进行区域标记，只保留其中最大的白色区域，而将其他区域置成黑色；步骤350)、对区域标记结果图像进行黑白反转，对黑白反转结果图像的白色区域进行标记，保留其中最大的白色区域，而将其他区域置成黑色；步骤360)、判断步骤350)产生的结果图像中的黑色区域是否封闭，如果封闭则进行面积计算，如果不封闭，则直接执行步骤380)；步骤370)、将黑色区域的面积与实际目标门限S_T进行比较，如果不小于S_T，则该黑色区域就是矩形石英晶片目标；如果小于S_T，则将可变门限系数Ef减0.5，再回到步骤330)，继续进行处理；步骤380)、将可变门限系数Ef减0.5，再回到步骤330)，继续进行处理。