[发明专利]用于泄漏探测的热测量系统和方法在审
申请号: | 201110058721.4 | 申请日: | 2011-03-04 |
公开(公告)号: | CN102192823A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | A·安萨里;R·J·奇拉 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01M3/04 | 分类号: | G01M3/04 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 严志军;谭祐祥 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 泄漏 探测 测量 系统 方法 | ||
1.一种系统(10,12),包括:
热辐射传感器(42),其指向包括至少一个流体通道(64,66,68)的区域,其中,所述热辐射传感器(42)配置成输出指示所述区域的温度的信号;以及
通讯地联接到所述热辐射传感器(42)上的控制器(44),其中,所述控制器配置成基于所述信号探测所述至少一个流体通道(64,66,68)内的泄漏(93)。
2.如权利要求1所述的系统(10,12),其特征在于,所述热辐射传感器(42)包括热电堆。
3.如权利要求1所述的系统(10,12),其特征在于,所述系统包括配置成将来自所述区域的热辐射聚焦到所述热辐射传感器(42)上的光学聚焦装置(74,76)。
4.如权利要求3所述的系统(10,12),其特征在于,所述光学聚焦装置(74,76)包括镜子(76)、透镜(74)或它们的组合。
5.如权利要求1所述的系统(10,12),其特征在于,所述系统包括置于所述热辐射传感器(42)和所述区域之间的带通过滤器(72),其中所述带通过滤器(72)配置成阻塞具有小于大约8微米以及大于大约14微米的波长的电磁辐射的通过。
6.如权利要求1所述的系统(10,12),其特征在于,所述热辐射传感器(42)配置成探测具有红外频谱内的频率的热辐射。
7.如权利要求1所述的系统(10,12),其特征在于,所述控制器(44)配置成如果所述区域的所述温度超过第一阈值(92)、降低到第二阈值(90)之下、或者是它们的组合,则探测所述至少一个流体通道(64,66,68)内的所述泄漏(93)。
8.如权利要求1所述的系统(10,12),其特征在于,所述控制器(44)配置成如果所述区域的所述温度的变化速率超过第三阈值(92),则探测所述至少一个流体通道(64,66,68)内的所述泄漏(93)。
9.如权利要求1所述的系统(10,12),其特征在于,所述系统包括包含所述至少一个流体通道(64,66,68)的发电系统(10)。
10.一种系统(10,12),包括:
配置成从热辐射传感器(42)接收信号的控制器(44),所述信号指示包括至少一个流体通道(64,66,68)的区域的温度,其中,所述控制器(44)配置成基于所述信号探测所述至少一个流体通道(64,66,68)内的泄漏(93)。
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