[发明专利]一种绒面结构BZO/HGZO复合薄膜及应用无效
申请号: | 201110058727.1 | 申请日: | 2011-03-11 |
公开(公告)号: | CN102176471A | 公开(公告)日: | 2011-09-07 |
发明(设计)人: | 陈新亮;耿新华;王斐;闫聪博;张德坤;孙建;魏长春;张建军;张晓丹;赵颖 | 申请(专利权)人: | 南开大学 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/0232;H01L31/18;C23C16/40;C23C16/44;C23C14/35;C23C14/06;H01L31/20;H01L31/042 |
代理公司: | 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 | 代理人: | 侯力 |
地址: | 300071*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 结构 bzo hgzo 复合 薄膜 应用 | ||
1.一种绒面结构BZO/HGZO复合薄膜,其特征在于:具有玻璃/绒面结构BZO/高电导率HGZO结构,其中BZO为B掺杂ZnO,即ZnO:B,BZO薄膜厚度为(800-2500)nm;HGZO为H化Ga掺杂ZnO,即ZnO:Ga/H,HGZO薄膜厚度为(200-800)nm 。
2.一种如权利要求1所述绒面结构BZO/HGZO复合薄膜的制备方法,其特征在于:利用MOCVD技术和磁控溅射技术相结合生长高迁移率绒面结构BZO/高电导率HGZO薄膜,由以下步骤实现:
1)利用MOCVD技术,用纯度为99.995%的二乙基锌(DEZn)和水作为源材料,氢稀释浓度为1%的硼烷B2H6作为掺杂气体,生长B低掺杂ZnO透明导电薄膜,掺杂剂流量百分比含量为(0.1-1)%,基片衬底温度为130-180℃;
2)利用磁控溅射技术,用纯度为99.99%的ZnO:Ga2O3陶瓷靶材作为溅射靶材,掺杂剂ZnO的重量百分比含量为(0.5-1.0)%,以及H2作为气源材料,溅射气体采用Ar气体,生长高迁移率氢化镓掺杂ZnO(ZnO:Ga/H,HGZO)薄膜,玻璃基片衬底温度为25-250℃。
3.一种如权利要求1所述一种绒面结构BZO/HGZO复合薄膜的应用,其特征在于:应用于pin型μc-Si薄膜太阳电池和a-Si/μc-Si叠层薄膜太阳电池。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的