[发明专利]用于监测玻璃板抛光状态的装置和方法

说明书

对相关申请的交叉引用

根据35 USC 119(a)，本申请要求于2010年3月11日在韩国提交的韩国专利申请No.10-2010-0021658的优先权，该韩国专利申请的全部内容以引用的方式纳入本文。

技术领域

本发明涉及用于监测玻璃板抛光状态的装置和方法以及包括该装置的抛光机，更具体地，本发明涉及这样的用于监测玻璃板抛光状态的装置和方法——其可以在使用抛光机进行玻璃板抛光期间确定抛光状态方面的故障，并且可以提供相应的信息——以及涉及包括该装置的抛光机。

背景技术

通常，非常重要的是，应用于液晶显示器的玻璃(或玻璃板)将其平面度保持在一定水平以便在液晶显示器上精确地呈现图像。因此，应通过抛光去除玻璃表面上的细微波度或不平坦。

常规玻璃板抛光装置包括具有抛光垫的上单元(或上板)和下单元(或下板)，玻璃板将被放在该下单元处，其中上单元的抛光垫与下单元上的玻璃板接触，在抛光液通过自由下落而被供应到上单元的同时将下单元旋转，使得用抛光垫将玻璃板抛光。替代地，玻璃板抛光装置可包括上单元和具有抛光垫的下单元，玻璃板将被固定于该上单元处，其中可以在将抛光液供应到玻璃板的同时用抛光垫将玻璃板抛光。

但是，使用常规抛光装置的玻璃板抛光在于抛光期间识别抛光状态方面有困难。例如，难以精确识别正被抛光的玻璃板上是否存在诸如杂质或刮痕之类的缺陷，以及如果存在缺陷的话该缺陷存在于玻璃板上何处。此外，难以清楚地识别在抛光期间供应的抛光液的量是大还是小、是否正在施加合适的抛光压力、抛光垫被磨损了多少等等。此外，难以识别抛光装置中的玻璃板是否被损坏，以及如果被损坏的话受损部分存在于玻璃板上何处。

特别地，随着倾向于大规模生产和生产更大尺寸的玻璃板的趋势，更加难以个别地监测每个玻璃板的抛光状态。

如果在抛光期间不能很好地监测玻璃板抛光状态，玻璃板的抛光效率会降低，并且当故障出现时操作者不能采取适当的行动。例如，当诸如杂质或刮痕之类的缺陷未被去除，但抛光在逝去一段预定的抛光时间后终止时，则不会获得抛光效果。反之，如果抛光持续至一预定的时间——即使是缺陷被去除后——抛光效率会降低，会浪费时间和成本。而且，由于不能很好地监测而导致的玻璃板特定位置处的被忽视的缺陷会影响接下来的玻璃板制造过程。此外，当抛光液的供应量太大时，抛光垫将不具有摩擦力，当抛光液的供应量太小时，将不会获得抛光液的使用效果。因此，当不以合适的量供应抛光液时，不会实现利用抛光液获得的抛光效率。此外，当不监测抛光垫的磨损时，难于精确识别抛光垫的更换周期。此外，当不监测抛光装置的抛光压力是否合适或玻璃板是否被损坏时，只有在看到抛光的玻璃板后才识别出抛光状态，导致时间和成本的浪费。

发明内容

本发明被设计来解决上述问题，因此，本发明的目的是提供用于在抛光期间快速、精确地监测玻璃板抛光状态的装置和方法。

本发明的附加特征和优点将在接下来的描述中阐述，并且将会部分地根据该描述而显而易见，或者可以通过实施本发明来获知。本发明的特征和优点可以通过在所附权利要求书中具体指出的设备和组合实现和获得。根据以下描述和所附权利要求书，本发明的这些和其它特征将变得充分明显，或者可以通过如本文中所阐述的实施本发明来获知本发明的这些和其它特征。

为实现上述目的，根据本发明的一种用于监测玻璃板抛光状态的装置可包括：位置测量单元，其用于测量玻璃板上的正利用抛光机抛光的位置；电流测量单元，其用于测量流入该抛光机的电流；存储器单元，其用于存储对于玻璃板的每个抛光位置流入该抛光机的电流的参照值；以及，控制单元，其用于通过将电流测量单元所测量的针对由所述位置测量单元所测量的每一抛光位置的电流值与存储在存储器单元中的每一抛光位置的电流参考值进行比较来确定抛光状态是否有故障。

为实现上述目的，根据本发明的用于玻璃板的抛光机可包括上述用于监测玻璃板抛光状态的装置。

为实现上述目的，根据本发明的用于监测玻璃板抛光状态的方法可包括：(S1)存储对于玻璃板的每个抛光位置流入抛光机的电流的参照值；(S2)测量玻璃板上的正利用抛光机抛光的位置；(S3)测量流入抛光机的电流；以及，(S4)通过比较对于每个抛光位置电流的测量值和对于每个抛光位置的相应电流参考值确定抛光状态是否有故障。

根据本发明，可在使用抛光机进行玻璃板抛光期间快速、精确地监测玻璃板抛光状态。因此，使得操作者能够根据如上所述监测到的抛光状态采取提高抛光效率方面的适当行动。