[发明专利]输入控制方法、输入识别方法及设备有效
申请号: | 201110061287.5 | 申请日: | 2011-03-15 |
公开(公告)号: | CN102681751A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 周振生 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
主分类号: | G06F3/048 | 分类号: | G06F3/048 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 逯长明;王宝筠 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 输入 控制 方法 识别 设备 | ||
1.一种输入控制方法,其特征在于,包括:
检测输入焦点的输入位置变化;
获取所述输入焦点从第一输入位置变化到第二输入位置的时间差;
判断所述时间差是否小于预设阈值;
当所述时间差小于所述预设阈值时,将所述输入焦点从所述第二输入位置跳转到所述第一输入位置。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测输入焦点的输入位置变化包括:
检测到输入操作所控制的输入焦点从第一窗口的第一输入位置变化到第二窗口的第二输入位置;或者,
检测到输入操作所控制的输入焦点从第一窗口的第一输入位置变化到第一窗口的第二输入位置;或者,
检测到非输入操作所控制的输入焦点从第一窗口的第一输入位置变化到第二窗口的第二输入位置。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测输入焦点的输入位置变化包括:
获取所述输入焦点的输入位置变化前的第一输入位置信息,和变化后的第二输入位置信息;
判断所述第一输入位置信息与所述第二输入位置信息是否一致,若不一致,则确定所述输入焦点的输入位置变化。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述输入焦点从第一输入位置变化到第二输入位置的时间差包括:
获取所述输入焦点位于所述第一输入位置时的第一时刻,以及所述输入焦点位于所述第二输入位置时的第二时刻;
将所述第一时刻与第二时刻之间的差值作为所述输入焦点从第一输入位置变化到第二输入位置的时间差。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述输入焦点从第一输入位置变化到第二输入位置的时间差包括:
获取所述输入焦点从第一输入位置变化到第二输入位置的第三时刻,以及所述输入焦点位于所述第二输入位置时的第二时刻;
将所述第三时刻与第二时刻之间的差值作为所述输入焦点从第一输入位置变化到第二输入位置的时间差。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述输入焦点从所述第二输入位置跳转到所述第一输入位置后,所述方法还包括:
将在所述第二输入位置输入的输入信息显示在所述第一输入位置。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述将在所述第二输入位置输入的输入信息显示在所述第一输入位置包括:
存储所述输入焦点从第一输入位置变化到第二输入位置后的输入信息;
在所述第一输入位置上显示所述存储的输入信息。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
当所述时间差大于所述预设阈值时,将在所述第二输入位置输入的输入信息显示在所述第二输入位置。
9.一种输入识别方法,其特征在于,所述方法应用于一电子设备中,所述电子设备具有一输入焦点,其中,所述电子设备响应一正常输入而控制所述输入焦点的输入位置变化,所述电子设备响应一非正常输入而控制输入焦点的输入位置变化,包括:
检测输入焦点的输入位置变化;
获取所述输入焦点从第一输入位置变化到第二输入位置的时间差;
判断所述时间差是否小于预设阈值;
当所述时间差小于所述预设阈值时,确定所述输入焦点的输入位置变化为所述非正常输入产生,当所述时间差大于所述预设阈值时,确定所述输入焦点的输入位置变化为正常输入产生。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述确定所述输入焦点的输入位置变化为所述非正常输入产生后,还包括:
控制所述输入焦点从第二输入位置跳转到所述第一输入位置;
将在所述第二输入位置输入的输入信息显示在所述第一输入位置。
11.一种输入控制设备,其特征在于,包括:
检测单元,用于检测输入焦点的输入位置变化;
获取单元,用于获取所述输入焦点从第一输入位置变化到第二输入位置的时间差;
判断单元,用于判断所述时间差是否小于预设阈值;
控制单元,用于当所述时间差小于所述预设阈值时,将所述输入焦点从所述第二输入位置跳转到所述第一输入位置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联想(北京)有限公司,未经联想(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110061287.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:集成电路存储装置及其取代及制造方法
- 下一篇:高速冷打模拟实验的试验方法