[发明专利]一膜多用的掩膜法制备的N型太阳能电池及其制备方法有效
申请号: | 201110062563.X | 申请日: | 2011-03-16 |
公开(公告)号: | CN102176474A | 公开(公告)日: | 2011-09-07 |
发明(设计)人: | 张学玲 | 申请(专利权)人: | 常州天合光能有限公司 |
主分类号: | H01L31/048 | 分类号: | H01L31/048;H01L31/0352;H01L31/18 |
代理公司: | 常州市维益专利事务所 32211 | 代理人: | 王凌霄 |
地址: | 213031 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多用 法制 太阳能电池 及其 制备 方法 | ||
1.一种一膜多用的掩膜法制备的N型太阳能电池,其特征是:以n型直拉单晶硅为基体(1),硅片的背面是覆盖有钝化膜的硼扩散制备的P型发射结(2),硅片的正面是磷扩散制备的前表面场(3),前表面场(3)上覆盖有起钝化和减反射作用的薄膜。
2.根据权利要求1所述的一种一膜多用的掩膜法制备的N型太阳能电池,其特征是:所述的硅片背面的钝化膜为SiO2和SiNx双层钝化膜,SiNx钝化膜(5)在SiO2薄膜(4)的外层。
3.一种一膜多用的掩膜法制备N型太阳能电池的方法,其特征是:以n型直拉单晶硅为基体(1),首先通过硼扩散制备P型发射结(2),然后刻蚀掉正面的P型发射结,在硅片背面的P型发射结(2)上制作SiO2薄膜(4),该SiO2薄膜(4)即是后续磷扩散制备前表面场(3)的掩膜,又是P型发射结(2)的钝化膜,最后通过磷扩散制备前表面场(3)。
4.根据权利要求3所述的一种一膜多用的掩膜法制备N型太阳能电池的方法,其特征是:其具体步骤为:
a)n型直拉单晶硅片表面形成绒面结构以减少反射;
b)硼扩散制备P型发射结(2),方块电阻为20-150ohm/Sq;
c)刻蚀掉正面的P型发射结;
d)去硼硅玻璃;
e)在硅片背面的P型发射结(2)上制作SiO2薄膜(4),该SiO2薄膜(4)即是后续磷扩散制备前表面场的掩膜,又是P型发射结的钝化膜;
f)磷扩散制备前表面场(3),方块电阻为10-150ohm/Sq;
g)去PSG及在边缘形成的PN结;
h)发射极面制作SiNx钝化膜(5),前表面场制作具有钝化和减反射作用的SiNx膜(6);
i)制作栅线。
5.根据权利要求4所述一种一膜多用的掩膜法制备N型太阳能电池的方法,其特征是:在硼扩散完成后,用混合酸溶液或激光或腐蚀性浆料刻蚀掉正面的P型发射结。
6.根据权利要求4所述一种一膜多用的掩膜法制备N型太阳能电池的方法,其特征是:SiO2薄膜(4)是用热氧化法生长形成的,须用混合酸溶液或激光或腐蚀性浆料或等离子体刻蚀非发射极面SiO2薄膜,发射极面的SiO2薄膜(4)的厚度为100-400nm。
7.根据权利要求4所述一种一膜多用的掩膜法制备N型太阳能电池的方法,其特征是:SiO2薄膜(4)是CVD方式单面沉积形成的,发射极面的SiO2薄膜(4)的厚度为100-400nm。
8.根据权利要求4、6或7所述一种一膜多用的掩膜法制备N型太阳能电池的方法,其特征是:在磷扩散后,需用低浓度HF酸去除PSG,同时保留P型发射极面部分SiO2薄膜(4)作为钝化膜,保留的SiO2薄膜(4)的厚度为10-150nm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的