[发明专利]记录装置和记录方法无效
申请号: | 201110063402.2 | 申请日: | 2011-03-16 |
公开(公告)号: | CN102201244A | 公开(公告)日: | 2011-09-28 |
发明(设计)人: | 堀米顺一 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G11B7/08 | 分类号: | G11B7/08 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 装置 方法 | ||
相关申请的参考
本申请要求于2010年3月23日向日本专利局提交的日本专利申请第JP2010-066153号的优先权,其全部内容结合于此作为参考。
技术领域
本发明涉及通过光照射在光学记录介质上记录/再生信号的记录装置和记录方法。
背景技术
作为通过光照射执行信号的记录/再生的光学记录介质,例如,所谓诸如压缩光盘(CD)、数字多用途光盘(DVD)或者蓝光光盘(BD)(注册商标)的光盘已经得到了广泛的使用。
关于光学记录介质(其为在CD、DVD、BD等的当前状态下广泛使用的下一代光学记录介质),本申请人预先提出了所谓大容量记录型光学记录介质,如日本未审查专利申请公开第2008-135144号或第2008-176902号所述。
这里,如图21所示,大容量记录装置是指,例如,通过按顺序改变聚焦位置并将激光束照射到具有至少一个覆盖层101和体层(bulk layer)102以在体层102中执行多层记录来实现大记录容量的技术。
在这样的大容量记录中,日本未审查专利申请公开第2008-135144号披露了所谓微全息图法的记录技术。
微全息图法可广泛地分为正型微全息图法和负型微全息图法,如图22A和图22B所示。
在微全息图法中,将所谓的全息图记录材料用作用于体层102的记录介质。作为全息图记录材料,例如可光聚合的光聚合物是公知的。
如图22A所示,正型微全息图法是将两个相对的光通量(例如,光通量A和光通量B)聚焦到相同位置以形成细微干涉条纹(全息图)并将细微干涉条纹用作记录标记的方法。
与正型微全息图法相反,如图22B所示的负型微全息图法是通过激光束照射来擦除预先形成的干涉条纹并将所擦除的部分用作记录标记的方法。
图23是示出了负型微全息图法的示图。
在负型微全息图法中,如图23A所示,在执行记录操作之前,预先执行用于在体层102中形成干涉条纹的初始化处理。具体地,如图所示,来自平行光的光通量C和D相对进行照射以在整个体层102中形成这样的干涉条纹。
如图23B所示,在通过初始化处理预先形成干涉条纹之后,通过形成擦除标记来执行信息记录。具体地,通过以聚焦到任意层位置的状态来照射根据记录信息的激光束,来执行通过使用擦除标记来记录信息。
此外,作为另一个大容量记录方法,本申请人提出了形成空隙(孔)以作为记录标记的记录方法,如日本未审查专利申请公开第2008-176902号所述。
例如,空隙记录方法是利用相对较高功率的激光束照射由诸如可光聚合的光聚合物的记录材料形成的体层102、以在体层102中记录空隙(孔)的方法。如日本未审查专利申请公开第2008-176902号所述,以这种方式所形成的孔部具有与体层102的其他部分不同的折射率,从而增加了其边界部的光折射率。因此,将孔部用作记录标记并通过形成孔标记来实现信息记录。
在这样的空隙记录方法中,由于没有形成全息图,因此通过来自一侧的光照射完成记录。即,在正型微全息图法中,没有必要将两个光通量聚焦到相同位置以形成记录标记,并且不需要用于将两个光通量聚焦到相同位置的高精度位置控制。
在负型微全息图法或者空隙记录方法中,考虑了激光束从记录介质的一侧进行照射以执行记录/再生的情况。
这些方法原理上是不同的,但是基本概念是相似的,即光仅从一侧进入具有体层的体积型记录介质并且仅聚焦位置在体层102中变化以执行多层记录。
在这样的记录方法中,每个在体层102中形成的记录层自身没有地址信息。具体地,通过对记录标记进行记录而形成记录层,从而在记录之前不存在记录层。
一般来说,现有技术的光盘具有被称为摆动(wobbling)槽的锯齿型导槽,并检测其频率以获得位置信息。然而,在负型微全息图法或者空隙记录方法中,由于包括波动槽的记录层没有预先形成在体层102中,因此在这种方法中不能应用每个记录层的地址信息。
对于不能从记录体层102的内部直接检测到地址信息等的记录介质,与记录/再生表面独立地设置伺服基准表面(基准表面),并通过从其所获得的信号,来控制体层102中的记录位置。
在这种情况下,使用记录/再生光学系统和控制光学系统(伺服激光束)的两个光束(记录/再生激光束)。例如,在这样的光源中,存在使用蓝激光、红激光等的情况。
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