[发明专利]中子反射谱仪单色器的调节装置和用其调整单色器的方法无效
申请号: | 201110064573.7 | 申请日: | 2011-03-17 |
公开(公告)号: | CN102221516A | 公开(公告)日: | 2011-10-19 |
发明(设计)人: | 袁光萃;张红霞;程贺;韩志超 | 申请(专利权)人: | 中国科学院化学研究所 |
主分类号: | G01N13/00 | 分类号: | G01N13/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 关畅 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 中子 反射 单色 调节 装置 调整 方法 | ||
1.中子反射谱仪单色器的调节装置,其特征在于:所述装置包括支撑单色器的支撑块、基座、精密角度位移台、精密旋转台、精密水平位移台和精密高度位移台;所述精密角度位移台由固定座a和与所述固定座a活动连接的可沿所述固定座a的弧形轨道进行摆动的精密角度位移弧形台面组成;所述精密旋转台由固定座b和设置于所述固定座b上的可旋转的精密旋转台面组成;所述精密水平位移台由固定座c和设置于所述固定座c上的可水平移动的精密水平位移台面组成;所述精密高度位移台由固定座d和设置于所述固定座d上的可升降的精密高度位移台面组成;所述支撑块设于所述基座上;所述基座设于所述精密角度位移弧形台面上,所述固定座a设于所述精密旋转台面上,所述固定座b设于所述精密水平位移台面上,所述固定座c设于所述精密高度位移台面上。
2.根据权利要求1所述的调节装置,其特征在于:所述单色器的入射面与水平面成90°角;所述单色器的几何中心到所述基座的底面的高度等于所述精密角度位移台的转动轴线到所述精密角度位移弧形台面的高度;所述精密旋转台面的回转轴线通过所述单色器的几何中心;所述精密水平位移台的中轴线与所述精密旋转台面的回转轴线垂直相交;所述精密高度位移台的垂直中线与所述精密旋转台面的回转轴线重合,
所述精密高度位移台的垂直中线与所述精密水平位移台的中轴线垂直相交。
3.根据权利要求1或2所述的调节装置,其特征在于:所述精密角度位移台的精密角度位移弧形台面通过转动机构与能够驱动该精密角度位移弧形台面转动的步进电机相连。
4.根据权利要求1-3中任一所述的调节装置,其特征在于:所述精密旋转台的精密旋转台面通过旋转机构与能够驱动该精密旋转台面旋转的步进电机相连。
5.根据权利要求1-4中任一所述的调节装置,其特征在于:所述精密水平位移台的精密水平位移台面通过移动机构与能够驱动该精密水平位移台面水平位移的步进电机相连。
6.根据权利要求1-5中任一所述的调节装置,其特征在于:所述精密高度位移台的精密高度位移台面通过升降机构与能够驱动该精密高度位移台面升降的步进电机相连。
7.根据权利要求1-6中任一所述的调节装置,其特征在于:所述精密旋转台的角度精度为±0.005°;所述精密角度位移台的角度精度为±0.0015°。
8.根据权利要求1-7中任一所述的调节装置,其特征在于:所述精密水平位移台的定位精度为±3μm;所述精密高度位移台的定位精度为±3μm。
9.根据权利要求1-8中任一所述的调节装置,其特征在于:所述单色器为高定向热解石墨单色器。
10.利用权利要求1-9中任一所述调节装置来调整单色器的方法,包括如下步骤:
(1)调整所述精密高度位移台面和精密水平位移台面,使所述单色器的几何中心与白光中子源的中心重合;
(2)将所述精密旋转台的精密旋转台面绕所述回转轴线旋转,并保持所述单色器的几何中心位置不变;
(3)将所述精密角度位移台的精密角度位移弧形台面绕所述转动轴线旋转,并保持所述单色器的几何中心位置不变,则得到不同角度的单色中子束。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院化学研究所,未经中国科学院化学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110064573.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。