[发明专利]一种基于等效模型的介质损耗因数测量方法无效

专利信息
申请号: 201110064636.9 申请日: 2011-03-17
公开(公告)号: CN102156250A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 赵丽娟;李永倩 申请(专利权)人: 华北电力大学(保定)
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 黄家俊
地址: 071003 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 等效 模型 介质 损耗 因数 测量方法
【权利要求书】:

1.一种基于等效模型的介质损耗因数测量方法,其特征是所述方法包括下列步骤:

步骤1:获得设备绝缘上的电压信号和电流信号;

步骤2:根据步骤1的数据,获得电压信号和电流信号的频率及信号各次谐波;

步骤3:将设备绝缘考虑为等效电路模型,利用线性最小二乘算法获得了模型中的电阻、电容参数,然后直接计算获得介质损耗因数。

2.根据权利要求1所述一种基于等效模型的介质损耗因数测量方法,其特征是所述电压信号是通过电压互感器或电容分压器获得的。

3.根据权利要求1所述一种基于等效模型的介质损耗因数测量方法,其特征是所述电流信号是通过穿心式电流传感器或串入式电流传感器获得的。

4.根据权利要求1所述一种基于等效模型的介质损耗因数测量方法,其特征是所述获得信号频率及信号各次谐波的过程为:

先用加汉宁窗插值傅里叶算法获得信号频率,若信号频率在49.9~50.1赫兹范围内,则用快速傅里叶算法获得电压信号和电流信号的各次谐波;否则根据获得的信号频率用修正理想采样频率法获得信号的各次谐波。

5.根据权利要求1所述一种基于等效模型的介质损耗因数测量方法,其特征是所述等效电路模型为电阻和电容并联。

6.根据权利要求1所述一种基于等效模型的介质损耗因数测量方法,其特征是所述等效电路模型为电阻和电容串联。

7.根据权利要求5所述一种基于等效模型的介质损耗因数测量方法,其特征是所述电阻和电容并联时介质损耗因数的计算公式为:

tgδ=1/ωRC

其中:tgδ为介质损耗因数;ω为角频率;R为绝缘的等效电阻;C为绝缘的等效电容。

8.根据权利要求6所述一种基于等效模型的介质损耗因数测量方法,其特征是所述电阻和电容串联时介质损耗因数的计算公式为:

tgδ=ωRC。

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