[发明专利]用于检测图像传感器的装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于图像设备的检测装置及检测方法，尤其涉及一种用于检测图像传感器的装置及检测方法。

背景技术

图像传感器，是组成数字摄像头的重要组成部分。根据元件的不同，可分为CCD(ChargeCoupled Device，电荷耦合元件)和CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor，金属氧化物半导体元件)两大类。

受到制造工艺的限制，目前制造的图像传感器中不可避免存在一些缺陷，如存在坏像素点(以下简称坏点)。坏点一般是指该像素的暗电流偏大或其增益与其他像素点存在明显差异，坏点的存在是造成图像质量下降的原因之一。现有技术中针对上述缺陷，通常事先对其进行检测。常用的检测方式为通过曝光获取图像，然后对所获取的图像进行分析，以坏像素点的形式对缺陷进行标定。如专利CN201010230267.1中公开的技术方案，通过匹配合理的曝光参数以及多帧图像扫描，进一步提高了坏像素点的检测精度。

现有技术中常使用的坏点补偿方法主要包括两种：

一是采用实时检测补偿，对图像传感器进行实时检测，并对检测到的坏点进行补偿。该方法的缺点是受硬件条件约束(如内存)同时也受到检测时间、算法复杂度的影响，很难进行准确的检测和补偿。

二是采用维护坏点列表，通过选取坏点临近像素对该坏点进行插值补偿。常规补偿算法如《红外焦平面器件盲元检测及补偿算法》(2004年5月公开)中描述的那样，选取与坏像素相邻点对该坏像素插值。由于坏点不一定是孤立存在的，当出现数个坏点相邻时，会降低插值的精度。在专利CN200810112796.4中，则采用坏像素点周围多个像素点对该坏像素点进行插值，避免了坏像素直接相邻带来的影响，但当出现某块区域内坏像素密集分布时，插值精度仍会受到影响。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于检测图像传感器的装置及用于检测图像传感器的方法，该装置及方法能在存在多个坏点时，最大限度获得较优成像区，提高成像质量和后续处理精度。

本发明为满足上述发明目的，公开一种用于检测图像传感器的装置，按照光传播的方向依次包括：光源、光衰减器、第一透镜组、第二透镜组、光阑及图像传感器，通过调整所述光衰减器的透过率以获得不同光光强下所述图像传感器的曝光图像。

更进一步地，该光衰减器是一衰减片。该光源发出的光束经第一透镜组后转换为平行光、所述平行光经第二透镜组后转换为汇聚光。

本发明同时公开一种用于检测图像传感器的方法，包括：获得不同光强下的传感器曝光图像，根据所述曝光图像标定所述传感器的坏点，根据坏簇定义标定出传感器的坏簇区域，对所述坏簇区域排序后寻找测量效果好的区域。

更进一步地，对所述坏簇区域排序包括按照所需要的测量效果好的区域的位置、大小及所述坏簇区域的位置进行排序。

与现有技术相比较，利用本发明所公开的装置与方法能够有效避免ROI区域中出现坏点密集分布的情况，并且还可以灵活设置不同的ROI区域，以适应具有不同坏点情况的探测器并能相较现有技术提高成像质量。

附图说明

关于本发明的优点与精神可以通过以下的发明详述及所附图式得到进一步的了解。

图1是本发明所涉及的检测图像传感器的装置；

图2是本发明所涉及的检测图像传感器的方法；

图3是图像传感器的坏簇分布示意图。

具体实施方式

下面结合附图详细说明本发明的具体实施例。

如图1中所示，图1是本发明所涉及的检测图像传感器的装置，该装置结构简单，成本低廉，非常易于实现。该检测装置按照光路传播的方向依次包括：光源101、光衰减器102、第一透镜组103、第二透镜组104、光阑105及图像传感器106。光源1出射的光经过光衰减器102产生合适的检测照明光强。光衰减器102用于对光功率进行衰减的器件，在本实施方式中优选地使用了结构简单的衰减片作示意性说明。从衰减片102中出来的光束，经过第一透镜组103被转换为平行光，该平行光经过第二透镜组104后成为汇聚光束。该汇聚光束经过光阑105去处杂散光后照射到图像传感器106的表面。通过调整积分时间可以获得不同强度的输入信号，并检测出图像传感器对应的输出。通过控制衰减片102的透过率可以控制曝光光强，从而可以获得不同光强下的传感器曝光图像。根据检测结果，可以标定传感器上的坏点。