[发明专利]射频量测方法无效

专利信息
申请号: 201110065970.6 申请日: 2011-03-08
公开(公告)号: CN102684796A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 李道根;郑成统 申请(专利权)人: 梅尔根电子有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00
代理公司: 天津三元专利商标代理有限责任公司 12203 代理人: 郑永康
地址: 中国*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 射频 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种射频量测方法,主要应用于量测射频元件(例如:天线、滤波器、放大器等)性能(例如:反射系数及穿透系数等参数)的方法。

背景技术

射频的技术目前广泛运用于各种无线电通讯产品,包括手机、数字电视广播、无线上网、卫星导航等,对人类的生活产生巨大而深远的影响,手机的应用缩短人与人之间的距离,数字电视广播使人们可在任何时候收看电视,无线上网使人们可随时随地收发讯息,卫星导航提供驾驶人清楚的道路讯息,让旅游更方便,这些应用使人类生活更加便利。

任何无线电通讯产品都有不同射频元件(例如:天线、滤波器、放大器等)担负不同功能,射频元件性能(例如:反射系数及穿透系数等参数)的好坏对整体产品的表现有绝对关系,因此射频元件在使用前都必须进行量测;射频量测的目的,即在于量测射频元件性能是否符合规格,能在使用时能发挥其性能,达到无线电通讯最佳的目标。

如图1所示,目前的射频量测系统,是包含由网络分析仪10、射频开关20及控制电脑30所组成;其中,该射频开关20具有若干的量测端口(P1~P16),其动作流程为当要量测某个端口的待测元件40时(例如:天线),控制电脑30会将射频开关20切换至该欲量测的端口,例如:当要量测端口P3的待测元件40时,控制电脑30会将射频开关20切换至端口P3,接着由控制电脑30下指令要求网络分析仪10扫描位于端口P3的待测元件40的各频率点,然后由控制电脑30读取网络分析仪10扫描位于端口P3所测得的各频率点量测值,最后再由控制电脑30处理网络分析仪10扫描位于端口P3所测得的各量测数据及输出结果。

上述现有的射频量测系统,虽然可利用射频开关20增加量测端口的数量,以节省购买网络分析仪10的费用,达到增加测试产能的目的;但,如图2所示,由于上述现有射频量测系统的处理流程,是当控制电脑30将射频开关20切换至量测端口P(n)时,其将会依序在完成包括网络分析仪10扫描位于端口P(n)的待测元件40的各频率点、控制电脑30读取网络分析仪10扫描端口P(n)所测得的各频率点量测值、控制电脑30处理网络分析仪10扫描端口P(n)所测得的各量测据及输出结果等所有的动作程序后,再切换到另一端口P(n+1)继续进行应有的量测动作程序;因此,其缺点为整体系统的量测处理速度慢,使量测图形的画面更新太慢。

承上述,P(n)是指在步骤n时的量测端口,P(n+1)是指在步骤n后的下一步骤n+1的量测端口。

发明内容

本发明所要解决的主要技术问题在于,改善上述现有射频量测系统在量测处理流程所存在的缺点,而提供一种射频量测方法,其可以大幅缩短射频量测系统一次循环量测全部端口时间。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:

一种射频量测方法,借由包含网络分析仪、射频开关及控制电脑所组成的射频量测系统对射频元件量测的方法,该射频量测方法为利用网络分析仪扫描射频开关某一端口的各频率点的同时,利用控制电脑同步读取网络分析仪在上一次端口所扫描测得的各频率点量测值,并同时利用控制电脑同步处理网络分析仪于再上一次端口所测得的各频率点数据及输出,以大幅缩短射频量测系统一次循环量测全部端口时间。

本发明解决其技术问题还可采用如下技术方案:

一种射频量测方法,借由包含网络分析仪、射频开关及控制电脑所组成的射频量测系统对射频元件量测的方法,该射频量测方法为利用网络分析仪扫描射频开关某一端口的各频率点的同时,利用控制电脑同步读取网络分析仪在上一次量测端口所扫描测得的各频率点量测值,及处理网络分析仪于再上一次端口所测得的各频率点数据及输出,以大幅缩短射频量测系统一次循环量测全部端口时间。

本发明的有益效果是,其可以大幅缩短射频量测系统一次循环量测全部端口时间。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是目前的射频量测系统示意图。

图2是目前的射频量测流程图。

图3是本发明的射频量测系统示意图,及其待测元件为单端口元件(例如:天线)的示意图。

图4是本发明的射频量测流程图。

图5是本发明的另一可行的射频量测流程图。

图6是本发明的射频量测系统示意图,及其待测元件是为双端口元件(例如:滤波器、放大器等)的示意图。

图中标号说明:

10    网络分析仪

20    射频开关

30    控制电脑

40    待测元件

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