[发明专利]样本分析仪及试剂信息获取方法有效

专利信息
申请号: 201110066002.7 申请日: 2011-03-18
公开(公告)号: CN102221606A 公开(公告)日: 2011-10-19
发明(设计)人: 德永一敏 申请(专利权)人: 希森美康株式会社
主分类号: G01N33/53 分类号: G01N33/53;G01N21/62;G06K19/07;H01Q1/22;H01Q7/00
代理公司: 北京市安伦律师事务所 11339 代理人: 刘良勇
地址: 日本兵库县神户市*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 样本 分析 试剂 信息 获取 方法
【说明书】:

技术领域:

本发明涉及一种样本分析仪,特别是涉及一种装有带电子标签的试剂容器的样本分析仪,该电子标签上记录有试剂信息。

背景技术:

人们已经知道,历来有一种样本分析仪装有带有记录着试剂信息的电子标签的试剂容器。

比如日本专利公报No.2009/210444上公开了一种自动分析装置,其包括:以内圈列和外圈列两列固定复数个试剂容器的圆环形试剂容器固定部件,所述试剂容器上带有记录着试剂信息的无线IC标签;向固定在内圈列试剂容器固定部件的试剂容器的无线IC标签发射电波的内圈天线;向固定在外圈列试剂容器固定部件的试剂容器的无线IC标签发射电波的外圈天线;从内圈天线和外圈天线接收从无线IC标签返回的电波的信息读取及存储部件。在此自动分析装置,内圈天线配置于内圈列试剂容器固定部件的内侧,外圈天线配置于外圈列试剂容器固定部件的外侧。

然而,在上述日本专利公报No.2009/210444上记述的自动分析装置中,需要分别在内圈列试剂容器固定部件的内侧和外圈列试剂容器固定部件的外侧配置天线。因此,有零部件数量增加的问题。而且为了配置天线,必须确保内圈列试剂容器固定部件的内侧区域和外圈列试剂容器固定部件的外侧区域,因此有装置主体过大的问题。

本发明正是为了解决上述课题,本发明目的之一是提供一种既可以控制零部件数量增加,又可以抑制装置主体过大的样本分析仪及试剂信息获取方法。

发明内容:

本发明的范围只由后附权利要求书所规定,在任何程度上都不受这一节发明内容的陈述所限。

即,本发明提供:

(1)一种用试剂容器内的试剂分析样本的样本分析仪,包括:第一试剂容器固定部件,用于固定第一试剂容器,所述第一试剂容器上有记录着试剂的相关试剂信息的第一电子标签;第二试剂容器固定部件,用于固定第二试剂容器,所述第二试剂容器上有记录着试剂的相关试剂信息的第二电子标签;天线部件,配置在所述第一试剂容器固定部件和所述第二试剂容器固定部件之间,分别从所述第一电子标签和所述第二电子标签接收电波;及试剂信息获取部件,根据所述天线部件接收的电波,获取记录在所述第一电子标签的试剂信息和记录在所述第二电子标签的试剂信息。

(2)(1)所述的样本分析仪,其中,所述第一试剂容器的第一电子标签,配置在所述第一试剂容器与所述天线部件相对的侧面;

所述第二试剂容器的第二电子标签,配置在所述第二试剂容器与所述天线部件相对的侧面。

(3)(1)所述的样本分析仪,还包括:判断所述天线部件是否从所要读取的目标电子标签收到电波的控制部件。

(4)(3)所述的样本分析仪,其中,记录在所述目标电子标签的试剂信息包含识别试剂种类的种类识别信息;及所述控制部件根据所述试剂信息获取部件获取的试剂信息中所含所述种类识别信息,判断所述天线部件是否从所述目标电子标签收到电波。

(5)(1)所述的样本分析仪,其中,所述天线部件能够分别向所述第一试剂容器的第一电子标签和所述第二试剂容器的第二电子标签发送写入用电波,以此将试剂信息写入所述第一电子标签和所述第二电子标签;及所述样本分析仪还有控制部件,在所述天线部件向待写入试剂信息的电子标签发送写入用电波前,判断所述天线部件是否能与所述待写入电子标签通信。

(6)(1)所述的样本分析仪,其中,所述天线部件包含平板状天线基板,所述平板状天线基板一侧表面和另一侧表面分别位于所述第一试剂容器一侧和所述第二试剂容器一侧;及所述样本分析仪包含以下部件:移动所述第一试剂容器固定部件和所述第二试剂容器固定部件以及所述天线部件中的至少其中之一的驱动部件;及控制部件,当读取目标是所述第一试剂容器的第一电子标签时,控制所述驱动部件,使所述读取目标的第一电子标签移动到正对所述天线基板一侧表面的位置,而当读取目标是所述第二试剂容器的第二电子标签时,控制所述驱动部件,使所述读取目标的第二电子标签移动到正对所述天线基板另一侧表面的位置。

(7)(1)所述的样本分析仪,其中,所述第一试剂容器固定部件固定复数个所述第一试剂容器,从平面看略呈圆环形;所述第二试剂容器固定部件固定复数各所述第二试剂容器,从平面看在所述第一试剂容器固定部件内侧呈圆环形;及读取所述第二试剂容器固定部件的第二试剂容器上的第二电子标签时所述天线部件的可读取范围小于读取所述第一试剂容器固定部件的第一试剂容器上的第一电子标签时所述天线部件的可读取范围。

(8)(7)所述的样本分析仪,还包括:读取限制件,至少设置在所述第二试剂容器固定部件的第二试剂容器上的第二电子标签与所述天线部件之间,限制所述天线部件的可读取范围。

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