[发明专利]磁共振图像处理方法和磁共振图像处理装置有效
申请号: | 201110066142.4 | 申请日: | 2011-03-18 |
公开(公告)号: | CN102680928A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 李国斌;罗伯特·格林;杜米尼克·保罗 | 申请(专利权)人: | 西门子(深圳)磁共振有限公司 |
主分类号: | G01R33/56 | 分类号: | G01R33/56 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518057 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 图像 处理 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及磁共振成像(MRI)技术领域,特别是涉及一种磁共振图像处理方法、一种磁共振图像处理装置、用于实现所述方法的计算机程序、以及存储所述程序的计算机可读记录介质。
背景技术
磁共振成像技术广泛地应用于多个领域,用于探测物体的内部结构。磁共振成像的原理为:当施加外在磁场后,采用射频(RF)脉冲激励被测组织内的质子,质子吸收一定的能量而发生共振;当停止发射RF脉冲后,被激励的质子将吸收的能量以信号的形式逐步释放出来,对这些信号进行采集,并采用图像重建技术对信号进行处理就可获得被测物体的扫描图像。在三维MRI成像技术中,以厚片(Slab)为单位激励被测组织内的质子,并且每个厚片包括若干层(Slice)。
三维快速自旋回波(3D-TSE)成像方法是三维MRI技术中一种常用的成像方法,图1为现有技术中3D-TSE成像方法的原理图。通常将相邻两次选择性激励脉冲的间隔时间称为重复时间(TR),一个TR包括采集窗(图中斜线部分所示)和等待时间(图中空白框所示)。图1示出了两个TR。如图1所示,在第一TR的采集窗内,首先采用选择性激励脉冲激励当前厚片,然后施加多个非选择性回聚脉冲,每个回聚脉冲的角度可以相同也可以各异。当每个回聚脉冲的角度相同时,即为常规的3D-TSE成像技术;当每个回聚脉冲的角度各异时,通常将具有这种特征的3D-TSE成像技术称为可变翻转角的三维自旋回波(SPACE,Sampling Perfection with Application optimized Contrast by using different flip angle Evolutions)成像技术。每施加一次回聚脉冲后施加相位编码梯度(图中未示出),然后再施加频率编码梯度(图中未示出),在频率编码梯度的持续时间内进行一次回波采集,也就是扫描信号的采集,多次回波采集可构成回波链,用于后续图像重建。在第一TR的等待时间内,被激励的质子逐渐恢复到激励前的状态;当等待时间结束后,被激励的质子已经恢复到激励前的状态,这就完成了第一TR内的扫描。在接下来的连续几个TR内,可重复对当前厚片继续进行扫描,例如,在第二TR内,可重 复上述过程,第二TR的扫描结束后,然后再对下一厚片进行扫描,下一厚片的扫描方法和当前厚片的扫描方法相同。
可见,在现有技术所提供的3D-TSE成像方法中,在一个TR内只能对一个厚片进行扫描,若需对下一个厚片进行扫描,至少得等待下一个TR来临,而且在一个TR内等待时间的长度远远大于采集窗的长度,所以,现有技术提供的3D-TSE成像方法具有较低的成像效率。
在申请号为201010160442.4、申请人为西门子迈迪特(深圳)磁共振有限公司的中国专利申请中公开了一种新的磁共振成像方法。
如图2所示,在一个TR内可对一个以上厚片依次进行扫描,不妨假设在一个TR内可对沿选层方向三个彼此相邻的厚片(第一厚片slab1、第二厚片slab2和第三厚片slab3)依次进行扫描。时间段t1-t2为第一厚片在第一TR内的采集窗,在时间段t1-t2内,对第一厚片依次施加一个选择性激励脉冲和多个选择性回聚脉冲,在时间段t2-t7内,第一厚片内被激励的质子逐渐恢复到激励前的状态;时间段t3-t4为第二厚片在第一TR内的采集窗,在时间段t3-t4内,对第二厚片依次施加一个选择性激励脉冲和多个选择性回聚脉冲,在时间段t4-t9内,第二厚片内被激励的质子逐渐恢复到激励前的状态;时间段t5-t6为第三厚片在第一TR内的采集窗,在时间段t5-t6内,对第三厚片依次施加一个选择性激励脉冲和多个选择性回聚脉冲,在时间段t6-t11内,第三厚片内被激励的质子逐渐恢复到激励前的状态。可见,对当前厚片来说,当等待其中被激励的质子恢复到激励前的时间段中,磁共振成像设备可实现对其他厚片的扫描。按照上述方法,可以将一个厚片的采集时间降低至图1所示时间的2/N,其中N为厚片数量,例如图2中N=3。
然而,在上述成像过程得到的磁共振图像中,存在厚片边界处的暗线,这种暗线称为厚片边界伪影(Slab Boundary Artifact,SBA)。上述中国专利申请201010160442.4提出了过采样的手段来消除厚片边界伪影。
然而,在磁共振成像领域还需要更多的技术手段来消除厚片边界伪影,而本发明正是致力于提出另一种消除厚片边界伪影的技术。
发明内容
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子(深圳)磁共振有限公司,未经西门子(深圳)磁共振有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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